產品概述
產品定位與應用
Keysight / Agilent / HP PD1547022768409 Agilent 16192A Parallel Electrode SMD Test Fixture 平行電極 SMD 介電量測治具 屬於LCR 與阻抗元件量測設備，適合用於電容、電感、電阻、材料、治具與被動元件驗證等情境。
實際量測範圍與選配需依機身配置、附件與校正狀態確認。選型時建議同步確認測試頻率、量測參數、偏壓能力、治具型式、精度與校正條件，避免後續因選配、治具或校正條件不符而影響測試進度。 弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理詢價所需資訊。
規格與選配
主要規格與效能（Core Specifications）
產品定位（Product Overview）
- 由 Agilent Technologies 設計之專業 SMD 介電與阻抗量測治具
- Parallel Electrode SMD Test Fixture（平行電極式量測結構）
- 專用於側電極 SMD 元件阻抗與材料電性分析
- 適合高頻電子材料與微小元件精密測試
量測元件規格（Supported DUT Size）
- Minimum SMD Size：1 mm (L)
- Side Electrode Type SMD Components
- 支援微小尺寸電子材料與封裝元件測試
量測能力（Measurement Capability）
- Impedance Parameters：Z, R, X
- Capacitance Measurement（電容量）
- Dielectric Constant (Dk) 介電常數
- Dissipation Factor (Df) 損耗因子
- Frequency Response Characterization（頻率特性分析）
治具結構特性（Fixture Design Features）
- Parallel Electrode Structure（平行電極量測架構）
- Low Parasitic Capacitance & Inductance（低寄生效應）
- High Contact Stability（高穩定接觸設計）
- Optimized for High-Frequency Measurement（高頻量測最佳化）
相容分析設備（Compatible Analyzers）
- Impedance Analyzer 阻抗分析儀
- LCR Meter 精密LCR量測儀
- Material Electrical Measurement Systems
（常搭配 Keysight / Agilent 阻抗量測平台使用）
系統整合與特性（System Integration & Features）
- 可整合阻抗分析儀進行寬頻阻抗與介電量測
- 適用於研發、QA、產線 EOL / ATE 測試架構
- 支援高頻、高精度電子材料驗證流程
- 適合RF與高速電路材料品質控管
典型應用（Typical Applications）
- AI伺服器高速PCB與低損耗基材測試
- 5G / 6G 高頻通訊模組材料驗證
- WiFi 6 / WiFi 7 高速射頻電路設計分析
- LTE / NB-IoT 通訊元件阻抗特性測試
- 半導體封裝基板與先進封裝材料研發
- SMD電容與高頻被動元件品質評估
- 訊號完整性 SI / 電源完整性 PI 材料分析
- 電子材料研究實驗室與量產驗證
英文技術說明
The 16192A test fixture is designed for impedance evaluations of side electrode SMD components. The minimum SMD size that this fixture is adapted to evaluate is 1(L)[mm].