主要規格與效能（Core Specifications）

產品定位（Product Overview）

・由 Agilent Technologies 設計之專業 SMD 介電與阻抗量測治具
・Parallel Electrode SMD Test Fixture（平行電極式量測結構）
・專用於側電極 SMD 元件阻抗與材料電性分析
・適合高頻電子材料與微小元件精密測試

量測元件規格（Supported DUT Size）

・Minimum SMD Size：1 mm (L)
・Side Electrode Type SMD Components
・支援微小尺寸電子材料與封裝元件測試

量測能力（Measurement Capability）

・Impedance Parameters：Z, R, X
・Capacitance Measurement（電容量）
・Dielectric Constant (Dk) 介電常數
・Dissipation Factor (Df) 損耗因子
・Frequency Response Characterization（頻率特性分析）

治具結構特性（Fixture Design Features）

・Parallel Electrode Structure（平行電極量測架構）
・Low Parasitic Capacitance & Inductance（低寄生效應）
・High Contact Stability（高穩定接觸設計）
・Optimized for High-Frequency Measurement（高頻量測最佳化）

相容分析設備（Compatible Analyzers）

・Impedance Analyzer 阻抗分析儀
・LCR Meter 精密LCR量測儀
・Material Electrical Measurement Systems

（常搭配 Keysight / Agilent 阻抗量測平台使用）

系統整合與特性（System Integration & Features）

・可整合阻抗分析儀進行寬頻阻抗與介電量測
・適用於研發、QA、產線 EOL / ATE 測試架構
・支援高頻、高精度電子材料驗證流程
・適合RF與高速電路材料品質控管

典型應用（Typical Applications）

・AI伺服器高速PCB與低損耗基材測試
・5G / 6G 高頻通訊模組材料驗證
・WiFi 6 / WiFi 7 高速射頻電路設計分析
・LTE / NB-IoT 通訊元件阻抗特性測試
・半導體封裝基板與先進封裝材料研發
・SMD電容與高頻被動元件品質評估
・訊號完整性 SI / 電源完整性 PI 材料分析
・電子材料研究實驗室與量產驗證