產品介紹
LXI Class-A compliant（LXI Class-A 相容）
雙通道（Dual Channel）
輸出支援：Single-ended / Differential
每通道提供 500 MHz 或 250 MHz 即時類比頻寬（Instantaneous Analog Bandwidth，依選配）
Option 125
-
取樣率：1.25 GS/s
-
垂直解析度：15-bit
-
每通道即時類比頻寬：500 MHz
-
Option 062
-
取樣率：625 MS/s
-
垂直解析度：15-bit
-
每通道即時類比頻寬：250 MHz
-
Waveform Memory：最高 16 MS（Option 016）
-
可定義波形段（Segments）：最高 125k
-
可定義序列（Unique Sequences）：最高 16k
-
支援多模組同步（Multiple Module Synchronization）
可模擬 Multi-emitter / Multi-path 情境 -
Option 300：Dynamic Sequencing
硬體介面可動態指向預先定義的載波訊號（DDS Engine） -
Option 330：Direct Digital Synthesis (DDS)
提供載波窄頻調變的高效率壓縮/產生能力 -
Option 350：Function Generator（圖形化操作介面）
提供易用 GUI，可快速建立簡單/複雜/調變波形；搭配 15-bit 高解析與優異訊號品質，可提供 1 Hz 解析度的穩定波形輸出 -
IEEE 1588 time-based triggering（IEEE 1588 時基觸發）
-
Remote programming：LAN IEEE 1588 over 100Base-T LAN
-
LXI hardware trigger bus
-
支援多模組同步以建立複雜訊號產生情境
-
Full environmental specifications（完整環境規格支援）
主要特色 / 規格亮點：
✓ N8241A 為 LXI Class-A 相容之高階雙通道 AWG，支援 Single-ended / Differential 輸出
✓ 依選配可提供 1.25 GS/s（Option 125）/ 625 MS/s（Option 062），並同時具備 15-bit 垂直解析度與每通道 500 MHz / 250 MHz 即時類比頻寬
✓ 支援 Dynamic Sequencing（Opt 300） 與 DDS（Opt 330），可快速建立載波/窄頻調變等複雜訊號情境
✓ 提供 Function Generator 圖形化介面（Opt 350），簡化簡單/複雜/調變波形建立，並支援 1 Hz 解析度穩定輸出
✓ Waveform memory 最高 16 MS（Opt 016），並支援 125k segments、16k sequences，適合建立多段波形與長序列測試腳本
✓ 支援 IEEE 1588 時基觸發、LXI Trigger Bus、遠端程控 LAN，並可多模組同步以模擬 multi-emitter / multi-path 場景Agilent N8241A datasheet:
-
規格
系統架構（System）
-
LXI Class-A compliant（LXI Class-A 相容）
-
雙通道（Dual Channel）
-
輸出支援：Single-ended / Differential
-
每通道提供 500 MHz 或 250 MHz 即時類比頻寬（Instantaneous Analog Bandwidth，依選配）
取樣率 / 解析度 / 頻寬（Sampling / Resolution / Bandwidth）
-
Option 125
-
取樣率：1.25 GS/s
-
垂直解析度：15-bit
-
每通道即時類比頻寬：500 MHz
-
-
Option 062
-
取樣率：625 MS/s
-
垂直解析度：15-bit
-
每通道即時類比頻寬：250 MHz
-
任意波形記憶體（Waveform Memory）
-
Waveform Memory：最高 16 MS（Option 016）
波形/序列能力（Segments / Sequences）
-
可定義波形段（Segments）：最高 125k
-
可定義序列（Unique Sequences）：最高 16k
-
支援多模組同步（Multiple Module Synchronization）
可模擬 Multi-emitter / Multi-path 情境
進階波形與調變選項（Advanced Options）
-
Option 300：Dynamic Sequencing
硬體介面可動態指向預先定義的載波訊號（DDS Engine） -
Option 330：Direct Digital Synthesis (DDS)
提供載波窄頻調變的高效率壓縮/產生能力 -
Option 350：Function Generator（圖形化操作介面）
提供易用 GUI，可快速建立簡單/複雜/調變波形；搭配 15-bit 高解析與優異訊號品質，可提供 1 Hz 解析度的穩定波形輸出
同步/觸發（Synchronization / Trigger）
-
IEEE 1588 time-based triggering（IEEE 1588 時基觸發）
-
Remote programming：LAN IEEE 1588 over 100Base-T LAN
-
LXI hardware trigger bus
-
支援多模組同步以建立複雜訊號產生情境
環境規範（Environmental）
-
Full environmental specifications（完整環境規格支援）
主要特色 / 規格亮點：
✓ N8241A 為 LXI Class-A 相容之高階雙通道 AWG，支援 Single-ended / Differential 輸出
✓ 依選配可提供 1.25 GS/s（Option 125）/ 625 MS/s（Option 062），並同時具備 15-bit 垂直解析度與每通道 500 MHz / 250 MHz 即時類比頻寬
✓ 支援 Dynamic Sequencing（Opt 300） 與 DDS（Opt 330），可快速建立載波/窄頻調變等複雜訊號情境
✓ 提供 Function Generator 圖形化介面（Opt 350），簡化簡單/複雜/調變波形建立，並支援 1 Hz 解析度穩定輸出
✓ Waveform memory 最高 16 MS（Opt 016），並支援 125k segments、16k sequences，適合建立多段波形與長序列測試腳本
✓ 支援 IEEE 1588 時基觸發、LXI Trigger Bus、遠端程控 LAN，並可多模組同步以模擬 multi-emitter / multi-path 場景
儀器介紹
Agilent's N8241A arbitrary waveform generator (AWG) is a synthetic instrument (SI) module that combines unprecedented performance with unsurpassed flexibility. Its combination of high resolution and high sampling rates enables designers to create ideal waveforms for accurate testing of radar, satellite, digital radio, and frequency-agile systems. Each channel provides modulation bandwidth of either 500 MHz at 1.25 GS/s or 250 MHz at 625 MS/s. With over 65 dBc of spurious-free dynamic range, complex signals with very high fidelity can be generated. When the N8241A is combined with a wideband I/Q upconverter, modulation bandwidth of 1 GHz (at 1.25 GS/s) or 500 MHz (at 625 MS/s) can be achieved at microwave frequencies, enabling realistic signal simulations for testing of IF and RF subsystems. Get a complete overview of models and form factors Typical applications include test and measurement of devices, subsystems and systems in radar, EW, UWB, wireless communications, aerospace/defense and commercial applications. Discover how to create realistic signals for radar testing Key Features