主要規格與效能（Core Specifications）

產品定位（Product Overview）

・由 Agilent Technologies 設計之專業阻抗量測治具
・Spring Clip & Parallel Electrode Fixture（彈簧夾式＋平行電極量測結構）
・適用 SMD 元件與引腳式元件阻抗與介電特性分析
・支援高速電子與高頻材料精密測試需求

頻率範圍（Frequency Range）

・DC to 500 MHz
・適用寬頻阻抗與材料電性量測應用

偏壓能力（DC Bias Capability）

・DC Bias：-40 V to +40 V
・支援偏壓條件下之元件真實工作特性測試

操作溫度（Operating Temperature）

・0 to 55 °C
・Same as Measurement Instrument（與量測主機相同規格）

治具接觸結構（Contact Structure）

・Parallel Electrodes for SMD Components（平行電極式 SMD 接觸設計）
・Additional Electrodes for Lead Components（支援引腳式元件夾持量測）
・Low Parasitic Effect Design（低寄生效應結構）

端口連接（Terminal Connection）

・APC-7 Precision Connector
・高穩定高頻量測連接介面

量測能力（Measurement Capability）

・Impedance Parameters（Z, R, X）
・Capacitance Measurement（電容量）
・Dielectric Constant – Dk（介電常數）
・Dissipation Factor – Df（損耗因子）
・Bias-Dependent Electrical Characterization（偏壓電性分析）

系統整合與特性（System Integration & Features）

・可整合阻抗分析儀與 LCR Meter 進行寬頻量測
・支援偏壓測試環境模擬實際工作條件
・適用研發、QA、產線 EOL／ATE 測試流程
・適合高頻元件與材料可靠度分析

典型應用（Typical Applications）

・AI 伺服器高速電路材料阻抗與介電測試
・5G / 6G 射頻通訊元件與基材分析
・WiFi 6 / WiFi 7 高速射頻電路驗證
・LTE / NB-IoT 通訊模組特性量測
・半導體封裝基板與先進材料研發
・被動元件（電容／電感／電阻）偏壓特性分析
・SI / PI（訊號完整性／電源完整性）材料評估
・電子材料研發實驗室與量產測試