Agilent 8494G Programmable Step Attenuator 可程式控制階梯式射頻衰減器|RF Programmable Step Attenuator

射頻微波儀器 / 網路分析儀

Agilent 8494G Programmable Step Attenuator 可程式控制階梯式射頻衰減器|RF Programmable Step Attenuator

型號 8494G

供應狀態、選配與交期請洽詢確認。

產品概述

產品定位與應用

Keysight / Agilent / HP PD1534238005948 Agilent 8494G Programmable Step Attenuator 可程式控制階梯式射頻衰減器|RF Programmable Step Attenuator 屬於向量網路分析與射頻微波元件量測設備,適合用於S 參數、回波損耗、增益/損耗、VSWR、相位、群延遲、濾波器、放大器、天線、線纜與 RF 模組驗證等情境。

實際量測範圍與選配需依機身配置、附件與校正狀態確認。選型時建議同步確認頻率範圍、埠數、動態範圍、校正件、測試治具、Bias Tee、衰減器與其他選配功能,避免後續因選配、治具或校正條件不符而影響測試進度。 弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期,協助比對同級替代型號並整理詢價所需資訊。

規格與選配

主要規格與效能(Core Specifications)

產品定位(Product Overview)

  • Keysight / Agilent 8494G 為 Programmable Step Attenuator(可程式控制階梯式射頻衰減器)
  • 提供高速、精準的 Signal Level Control
  • 適合整合於 Automatic Test Equipment(ATE)
  • 專為高可靠度 RF / 微波量測系統設計

頻率範圍(Frequency Range)

  • DC to 4 GHz
  • 適用於 Sub-6GHz RF 測試架構
  • 涵蓋通訊模組與射頻前端驗證應用

衰減範圍(Attenuation Range)

  • 0 – 11 dB
  • 1 dB Steps
  • Programmable Switching(可程式控制)
  • Switching Time ≤ 20 ms(Including Contact Settling)

衰減重複性與壽命(Repeatability & Life)

  • Typical Repeatability:0.01 dB
  • > 5 Million Cycles
  • Precision Gold-Plated Leaf Springs 設計
  • 確保低 Measurement Uncertainty
  • 提供高信賴度於自動化測試平台

射頻性能(RF Performance)

・Low Insertion Loss

  • SWR < 1.5
  • Max RF Input Power:

  1 W Average

  100 W Peak

介面與程控(Interface & Programming)

  • 12-Pin Viking Programming Connector
  • 支援外部 Attenuator Driver 整合
  • 適合 HP-IB 自動化測試系統

連接器選項(Connector Options)

  • Type-N
  • SMA

典型應用(Typical Applications)

  • AI 伺服器 / HPC 射頻模組自動功率控制
  • 5G Sub-6GHz 功率校準與自動測試
  • 6G 前期高頻研究應用
  • LTE / NB-IoT / IoT 通訊模組驗證
  • WiFi 6 / WiFi 6E / WiFi 7 RF 測試
  • Signal Generator 程控輸出功率調整
  • Spectrum Analyzer / VNA 前端保護
  • ATE / 產線 EOL 自動測試系統
英文技術說明

The Keysight 8494G dc to 4 GHz programmable step attenuator offers exceptional repeatability and reliability.

Precision gold-plated leaf springs ensure long-life (over 5 million cycles) and very high attenuator repeatability (typically 0.01 dB).

A maximum switching time of 20 ms (including contact settling) speeds automatic testing.

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