Anritsu MT8860

射頻微波儀器 / 頻譜分析儀 / 信號分析儀

Anritsu MT8860

型號 MT8860

供應狀態、選配與交期請洽詢確認。

產品概述

【

弘燁科技.專業無線通訊測試設備/量測儀器服務】 Anritsu MT8860 Series WLAN / Bluetooth Test Set 支援型號:MT8860A | MT8860B | MT8860C

Anritsu MT8860 Series 為 Anritsu 經典 WLAN / Bluetooth 無線通訊測試平台,專為 Wi-Fi 與 Bluetooth 晶片、模組與成品設備所設計,可進行 RF 發射與接收(Tx / Rx)測試、調變品質(EVM)、頻譜分析(Spectrum)與封包錯誤率(PER)等關鍵量測。

MT8860 系列廣泛應用於研發驗證、量產測試、ATE 與 QA 品質管控,適用於 Wi-Fi / Bluetooth 通訊模組、IoT、工業通訊、AIoT 與高速運算設備之無線測試需求,可有效提升產品無線通訊穩定度與量產一致性。

規格與選配

產品定位與架構(Product Overview)

  • Anritsu MT8860 Series WLAN / Bluetooth Test Set 為整合式無線通訊測試平台, 專為 Wi-Fi(WLAN)與 Bluetooth 晶片、模組與終端設備之研發與量產測試所設計, 可進行完整 RF Tx / Rx、調變品質與封包錯誤率(PER) 量測, 適用於研發驗證、QA 及產線 EOL / ATE 無線通訊測試應用

系統架構與測試模式(System Architecture & Test Modes)

  • 支援 WLAN 與 Bluetooth 裝置之發射(Tx)與接收(Rx)量測內建 Reference Radio,用於校準式
  • Receiver Packet Error Ratio(PER)測試
  • 支援 Network Mode ,透過標準 WLAN protocol 與 DUT 建立連線
  • 支援 Direct Mode ,搭配晶片供應商提供之 Test Mode Software
  • 內建 DHCP Server,可自動設定 DUT IP 參數
  • 支援 Packet Loopback,簡化 DUT 發射端測試流程
  • 支援 User-defined WLAN Packets 傳送

量測頻寬與效能( Measurement Bandwidth & Performance)

  • 支援 IEEE 802.11b / g / a / n 標準
  • 高速發射端量測能力,適用於量產與自動化測試環境
  • 支援 Output Power 與 Power Burst Profile 量測支援 Spectral Mask 與 CCDF 分析
  • 支援 Error Vector Magnitude(EVM)量測與 Constellation Diagram 顯示發射與接收

量測功能(Transmitter & Receiver Measurements)

  • Built-in Transmitter Analyzer,進行完整 RF 發射端分析
  • 支援 Receiver Sensitivity 與 PER 測試
  • 適用於無線通訊晶片、模組與成品設備效能驗證
  • 可用於研發除錯、功能驗證與量產一致性確認

軟體與自動化支援(Software & Automation Support)

  • LANLook Software :儀器設定、量測控制與結果顯示
  • CombiTest Software :支援量產與 Production Test Requirements
  • 可整合 Automated Test Equipment(ATE)系統
  • 有效縮短 Test System Design 與導入時間

量產導向設計(Manufacturing-Oriented Design)

  • 專為 WLAN / Bluetooth 無線通訊產品量產測試設計
  • 提升測試吞吐量(Throughput)與量測重複性
  • 降低整體 Cost of Test(CoT)
  • 系統易於校正與維護,適合長時間產線運作
英文技術說明

The Anritsu MT8860C is an integrated WLAN test set, which can be used for 802.11b/g/a/n transmitter and receiver measurements.

The MT8860C can be integrated faster into production, increases the throughput of production, reduces system test costs, and is easy to calibrate and maintain.

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