Hioki 3540 LCR / Impedance Meter

LCR 分析儀 / LCR 測試儀器

Hioki 3540 LCR / Impedance Meter

型號 3540

供應狀態、選配與交期請洽詢確認。

產品概述

Hioki 3540 DC Milliohm HiTester

適用於超低電阻量測|接觸電阻測試|導通品質分析|功率元件可靠度驗證

Hioki 3540 為 Hioki E.E.

  • 高速連接器與接點品質驗證
  • 5G / 6G 通訊設備功率導體導通分析
  • WiFi 6 / WiFi 7 高速通訊設備電源路徑測試
  • LTE/NB-IoT 裝置功率線路導通檢測
  • 半導體功率元件與封裝導通品質評估
  • 電池模組、繼電器與高電流端子測試

規格與選配

主要規格與效能(Core Specifications)

產品定位(Product Overview)

  • 由 Hioki E.E. Corporation 推出之 DC Milliohm HiTester 直流毫歐姆低電阻量測儀
  • 專為低電阻元件、接觸電阻與導通品質高速量測設計
  • 具備比較器分選功能,適合人工測試與自動化產線應用

量測範圍與精度(Measurement Range & Accuracy)

  • Resistance Range:30 mΩ to 30 kΩ(7 Ranges)
  • Display Resolution:3500 Full Digits 精度表現:
  • ±0.1% rdg. ±6 dgt(30 mΩ、3 Ω range)
  • ±0.1% rdg. ±4 dgt(300 mΩ、30 Ω to 30 kΩ range)

測試電流(Measurement Current)

・100 mA(30 mΩ range)

最大量測電壓(Max. Applied Measurement Voltage) ・3.5 mV DC(30 mΩ range)

・350 mV DC(30 kΩ range)

取樣速度(Sampling Speed)

  • Fast:16 times/second
  • Slow:4 times/second

反應時間(Response Time)

  • Fast:約 100 ms
  • Slow:約 300 ms

顯示系統(Display)

・3500 Full Digits LCD(液晶顯示)

量測方式(Measurement Method)

・Four-terminal Method(四線式 Kelvin 量測)

開路端電壓(Open-circuit Terminal Voltage)

・4.0 V Max(全量程適用)

數位輸入輸出(Digital I/O – Optional Versions)

(3540-01 / 3540-02 / 3540-03 專用)

  • TTL Output BCD
  • External Control I/O
  • Printer Output
  • RS-232C PC Communication

比較器功能(Comparator Functions)

  • Upper / Lower Limit 或 Reference ± % 設定
  • Up to 7 Tables 儲存
  • Output Levels:Hi / In / Lo
  • Open-collector、LED 顯示、蜂鳴提示

電源系統(Power Supply)

  • Dual Power System:
  • AA Batteries ×6
  • Optional AC Adapter(9 V, 1.4 A)

進階功能與特性(Advanced Features)

  • Comparator Sorting(高速元件分選)
  • Dual Comparator Mode(雙比較模式)
  • Temperature Compensation(溫度補償)
  • Auto-ranging Function(自動量程切換)
  • Fast Quality Determination(快速良率判定)
  • Four-terminal High Accuracy Method

系統整合與特性(System Integration & Features)

  • 高速 16 次/秒量測適合大量測試
  • 支援手動測試與自動化產線整合
  • 低功率測試避免元件發熱影響
  • 高穩定性導通品質分析

典型應用(Typical Applications)

  • AI 伺服器電源模組匯流排導通電阻測試
  • 高速連接器與端子接觸電阻品質控管
  • 5G / 6G 通訊設備功率模組導通分析
  • WiFi 6 / WiFi 7 高速設備電源線路驗證
  • LTE/NB-IoT 通訊裝置導通品質測試
  • 半導體功率元件與封裝導通特性檢測
  • 電池模組、繼電器與高電流導體量測
  • 研發實驗室/QA/產線 EOL/ATE 應用
英文技術說明

The mΩ HiTESTER 3540 is a high performance low resistance tester that includes a comparator function essential for component sorting, fast 16-times-per-second sampling, temperature compensation and autoranging, and a choice of interfaces to meet your measurement needs.

The standard 3540 is the economical version without external control interfaces, making it the no-fuss solution for manual testing.

For more advanced system integration capabilities, select Model 3540-01 for a built-in BCD output interface providing for external control, Model 3540-02 to output measurement results to a printer, and Model 3540-03 to add PC compatibility via a built-in RS-232C interface.

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