產品介紹
Tektronix SD-24 Dual Channel TDR / Sampling Head
（雙通道 TDR／取樣量測頭）
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Tektronix SD-24 為 Tektronix 高速 Dual Channel TDR / Sampling Head（雙通道時域反射與取樣量測頭），可同時進行高速訊號之 TDR 阻抗分析 與 取樣量測，適用於單端與差動通道之反射、不連續點與訊號完整性（SI）分析。 SD-24 需搭配相容之 Tektronix 取樣示波器主機使用，常見於高速電性通道、背板與連接器之設計驗證與除錯環境。 常見應用場域，適用於：
✓ AI 伺服器 / GPU Cluster 高速差動通道驗證
（主機板、背板、線纜與連接器阻抗與反射分析）
✓ Data Center / AI 機櫃高速互連測試
（高速電性互連 TDR / Sampling 分析）
✓ 高速 SerDes / 記憶體 / I/O 通道訊號完整性分析
（Impedance / Reflection / Discontinuity）
✓ PCB 與高速線路設計除錯
（Via、Connector、Backplane TDR 量測）
✓ 研發實驗室、QA 與系統級驗證測試環境
・TDR／取樣量測頭功能檢測與量測驗證
・現貨／客訂可（依主機平台與量測需求供貨）
・多型號高速 TDR 與取樣量測設備諮詢
（Tektronix SD-24／11800 系列／DSA Sampling 系列）
・高價回收高速訊號完整性量測設備
・FAE 工程師協助量測架構、校正與測試流程建議
（TDR／Sampling／AI 伺服器高速通道量測）
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規格
Tektronix SD 系列取樣／TDR 量測頭（Sampling / TDR Heads） Tektronix SD 系列 Sampling / TDR Heads 為高速取樣示波與訊號完整性（SI）量測專用模組，涵蓋電性取樣、TDR、光電轉換與觸發應用，可搭配 Tektronix 11800、DSA 等取樣示波平台使用，廣泛應用於高速數位、光通訊、AI 伺服器與資料中心高速互連驗證。
SD 系列型號一覽（Model Overview）
SD-14：3 GHz 高阻抗雙通道取樣頭 （100 kΩ / 0.475 pF）
| 型號 / 選配 | 說明 |
|---|---|
| SD-20 | 20 GHz 單通道 Loop-through 量測頭 |
| SD-22 | 12.5 GHz 雙通道低雜訊取樣頭 |
| SD-24 | 20 GHz 雙通道 TDR / Sampling Head |
| SD-26 | 20 GHz 雙通道取樣頭 |
| SD-32 | 50 GHz 單通道取樣頭 |
| SD-42 | 6.4 GHz O/E 光電轉換器 |
（55 ps Optical Pulse Response, FWHM）
| 型號 / 選配 | 說明 |
|---|---|
| SD-44 | 15 GHz O/E 光電轉換器 |
| SD-51 | 20 GHz Trigger Head |
SD-24 核心量測規格（Key Specifications）
| 頻寬 | 20 GHz |
|---|---|
| 上升時間（Rise Time） | 17.5 ps |
| 取樣重複率 | 100 Hz ～ 200 kHz |
| 通道時間一致性 | 通道間 10 ps |
電氣輸入特性
最大輸入電壓：
1 Vp-p（量測）
1.6 Vp-p（操作）
輸入介面：3.5 mm 連接器
Pulser Rise Time：28 ps Pulser Voltage：250 mV
支援雙通道 TDR 與取樣量測整合
架構與應用定位（System Positioning）
雙通道設計，適合差動與高速電性通道分析
支援高速通道 阻抗、反射、不連續點 量測
常見於 R&D、QA 與系統級驗證環境
系統整合說明
SD-24 與 SD 系列量測頭需搭配 Tektronix 取樣示波器主機（如 11801C、DSA 系列）使用，可依應用需求彈性建構高速取樣與 TDR 量測平台。
原廠英文說明
The SD-24 sampler uses a six-diode sampling bridge similar in concept to the "trapped charge", traveling wave S-4 sampler. The SD-24 is a dual-channel sampler which includes a built-in TDR pulser. The SD-24 sampler is internally terminated in 50 Ohms.
The picosecond domain transient performance was found to track well with waveforms measured on the HYPRES scope. It did show a few extra small (4%) perturbations in the 200 ps to 500 ps region that were not seen on the HYPRES or HP-54121A samplers. After 1 ns, the settling time transient performance was excellent.
It was far better than any of the other samplers tested.