產品概述
YOKOGAWA AQ6375 Optical Spectrum Analyzer（光學頻譜分析儀 / OSA）
常見於光通訊/光電研發、QA 及產線測試，適用於：
- 2 µm 波段雷射與紅外光源量測（IR Laser / Spectrum）
- 光纖雷射、放大器與光學元件特性分析
- 光譜分佈與功率量測（Optical Spectrum / Power Distribution）
- 波長精度與解析度驗證（Wavelength Accuracy / RBW）
- 微弱訊號與高動態光譜分析（High Sensitivity / Dynamic Range）
- 近紅外/中紅外材料與濾波器測試（NIR/MIR Material / Filter）
規格與選配
波長量測範圍（Wavelength Range）
1200 nm ～ 2400 nm（Long Wavelength Range）
靈敏度/量測功率範圍（Sensitivity / Measurable Level）
| 高靈敏度（High Sensitivity） | 最低 -70 dBm |
|---|---|
| Level sensitivity 設定 | 7 段（最低 -70 dBm） |
| 可量測功率範圍（Measurable level range） | -70 dBm ～ +20 dBm |
解析度（Wavelength Resolution / RBW）
波長解析度設定：6 段 Resolution range：50 pm ～ 2 nm
波長精度（Wavelength Accuracy）
± 0.05 nm
動態範圍（Dynamic Range）
Close-in dynamic range：55 dB
量測速度與顯示（Speed / Display）
快速量測（Fast measurement）：100 nm span 只需 0.5 sec
水平軸顯示支援 Wave Number（cm⁻¹）
內建功能（Built-in Functions）
Built-in optical alignment source（內建光路對準光源）
英文技術說明
The AQ6375 is the first bench-top optical spectrum analyzer covering the long wavelengths over 2 μm.
It is designed for researchers and engineers who have been struggling with inadequate test equipment to measure in these long wavelength ranges.
The AQ6375 achieves high speed measurements with high accuracy, resolution and sensitivity, even while providing full analysis features.
Troublesome calibration steps and the development of external analysis software is no longer required.
Characterization of sources used in laser Absorption Spectroscopy Gas detection and concentration measurementsCharacterization of Fiber Bragg GratingsCharacterization of Supercontinuum light sources