日置(Hioki)

Hioki IM7587 阻抗分析儀 1 MHz 至 3 GHz|Impedance Analyzer

Hioki IM7587 阻抗分析儀 1 MHz 至 3 GHz|Impedance Analyzer 屬於源量測單元(SMU)與精密 I-V 測試設備,可用於半導體元件、感測器、材料、太陽能電池、二極體、LED 與研發/品保 I-V 特性驗證。弘燁科技可協助確認庫存、附件、校正、交期與替代型號。

品牌:日置(Hioki) 型號:IM7587 料號:IM7587
【弘燁科技】Hioki IM7587 阻抗分析儀 1 MHz 至 3 GHz|Impedance Analyzer
品牌
日置(Hioki)
型號
IM7587
類別
阻抗分析儀
規格資料
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產品介紹

產品定位:Hioki IM7587 阻抗分析儀 1 MHz 至 3 GHz|Impedance Analyzer 屬於源量測單元(SMU)與精密 I-V 測試設備,可用於半導體元件、感測器、材料、太陽能電池、二極體、LED 與研發/品保 I-V 特性驗證。

選型重點:實際輸出與量測範圍會依機身型號、韌體、附件與校正狀態而不同。評估 IM7587 時,建議同步確認電壓/電流範圍、量測解析度、通道數、四線式量測、介面、附件、校正狀態與保護條件。

採購與技術確認:弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期,協助比對同級替代型號並整理可交付方案。

品牌與分類:品牌為 Hioki,產品分類為 半導體與元件 I-V 量測。如需確認完整規格、附件、校正與交期,建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。

規格

規格重點

測試頻率1 MHz 至 3 GHz
測試速度最快 0.5 ms
基本精度±0.65% rdg
量測方法RF I-V 法
精度保證範圍100 mΩ 至 5 kΩ
測試訊號-40 dBm 至 +1 dBm
功能接觸檢查、DCR/Hi-Z/波形檢查與掃描分析
介面EXT I/O、USB、LAN;RS-232C/GPIB 選配

常見應用

  • 高頻電感、電容與 RF 元件阻抗量測
  • 晶片元件與通訊零件研發驗證
  • 高速產線判定與接觸狀態檢查
  • 測試頭、治具、頻率與訊號位準選型

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原廠英文說明

Product positioning and application: Hioki IM7587 Impedance Analyzer covers 1 MHz to 3 GHz using the RF I-V method, with measurement times from 0.5 ms and basic accuracy of +/-0.65% rdg.Selection notes: Confirm the exact measurement range, test-head or fixture, interface, accessory, calibration and delivery requirements before quotation. SMART can help engineering, R&D and purchasing teams compare available configurations.Key SpecificationsTest frequency1 MHz to 3 GHzMeasurement timeAs fast as 0.5 msBasic accuracy+/-0.65% rdgMeasurement methodRF I-V methodAccuracy-guaranteed range100 mOhm to 5 kOhmTest signal-40 dBm to +1 dBmFunctionsContact check, DCR, Hi-Z, waveform check and sweep analysisInterfacesEXT I/O, USB and LAN; optional RS-232C or GPIBTypical ApplicationsHigh-frequency inductor, capacitor and RF-component measurementChip-component and communications-device validationHigh-speed production judgment and contact checkingTest-head, fixture, frequency and signal-level review