產品介紹
產品定位與應用Keysight / Agilent / HP PD1530148385731 Agilent / Keysight 81640A Tunable Laser Source 可調式雷射光源
Tunable Laser Source
AI 伺服器高速光互連測試 屬於頻譜與訊號分析設備，適合用於載波、雜訊、諧波、雜散、調變品質、通訊訊號與 EMI 預掃測試等情境。
實際量測範圍與選配需依機身配置、附件與校正狀態確認。
選型時建議同步確認頻率範圍、分析頻寬、相位雜訊、DANL、前置放大器、追蹤產生器與量測應用軟體，避免後續因選配、治具或校正條件不符而影響測試進度。
弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理詢價所需資訊。
規格
Specifications（Key Performance Specifications）｜Agilent / Keysight 81640A
| Laser band | C-Band / L-Band（DWDM bands） |
|---|---|
| Wavelength range | 1510 nm to 1640 nm |
| Max. output power | 4 dBm |
| Wavelength accuracy（abs.） | ±0.015 nm |
| Wavelength repeatability（typ.） | ±0.5 pm |
| Tuning / sweep | Continuous sweep through full wavelength range（全波段連續掃頻） |
Optical Performance（Source Quality）
Low Source Spontaneous Emission（SSE）：適合高 dynamic range 量測 High power output for optical amplifier test：可用於光放大器（EDFA）相關測試 Mode-hop free tuning：全波段平順調諧，避免 mode hop 造成頻率跳變影響
Built-in Functions（內建功能）
Built-in real-time wavelength meter（內建即時波長計）
提升掃頻量測與 DWDM 元件測試的波長控制精度與追溯性
Typical Applications（Applications）
Critical DWDM passive components test（AWG / Filter / Coupler 頻譜響應測試）
Data Center / AI Server Interconnect Validation（400G/800G 光鏈路驗證、矽光子元件測試）
Signal to Source Spontaneous Emission Ratio
Signal to Total Source Spontaneous Emission Ratio
原廠英文說明
The Agilent 81640A tunable laser source covers both C- and L - Band. It is specially designed for testing critical DWDM passive components. It has continuous sweep through full wavelength range, low source spontaneous emission output for high dynamic range, high power optical output for optical amplifier test, a built-in real-time wavelength meter and mode-hop free tuning over full wavelength range.