產品介紹
The Agilent 16453A is designed for accurate dielectric constant and loss tangent measurements on the Agilent E4991A/4291A/B. It employs the parallel plate method, which sandwiches the material between two electrodes to form a capacitor. The Agilent E4991A/4291A/B measures the capacitance created from the fixure, and option 002 firmware calculates the relative complex permittivity as described in the Agilent 16451B. Adjustment to insure parallel electrodes is required when using the Agilent 16451B. This adjustment is not required with the Agilent 16453A because the fixure has a flexible electrode that adjusts automatically to the material surface.
產品定位（Product Overview）
・Agilent 16453A Dielectric Material Test Fixture
・介電材料量測專用治具（Dielectric Constant / Loss Tangent）
・搭配 Agilent E4991A / 4291A / 4291B 使用
・適用於高頻材料介電特性精密量測
量測方法（Measurement Method）
・Parallel Plate Method（平行板法）
・將材料夾置於兩電極間形成電容結構
・由分析儀量測電容量並計算介電特性
系統相容與運算（System Compatibility & Calculation）
・Compatible Instruments：
– Agilent E4991A
– Agilent 4291A / 4291B
・搭配 Option 002 Firmware
・自動計算 Relative Complex Permittivity（εr）
・計算方式與 Agilent 16451B 相同
治具設計優勢（Fixture Design Advantage）
・Flexible Electrode Design（可撓式電極）
・電極可自動貼合材料表面
・無需手動調整平行度（相較 16451B）
・提升量測穩定度與重現性
・快速建立材料介電模型
・降低治具調整誤差與操作門檻
・適合高頻與高速材料開發
・提升材料選型與品質驗證效率
・AI 伺服器 / HPC 高速基板與封裝材料介電特性分析
・5G / 6G / LTE / Wi-Fi 6 / Wi-Fi 7 高頻通訊材料測試
・NB-IoT / IoT 模組用基板與絕緣材料驗證
・PCB 基材、封裝樹脂、薄膜材料介電量測
・高速數位與射頻材料選型與比較
・研發實驗室 / QA 驗證 / 材料分析應用
Agilent 16453A datasheet:
規格
主要規格與效能（Core Specifications）
產品定位（Product Overview）
・Agilent 16453A Dielectric Material Test Fixture
・介電材料量測專用治具（Dielectric Constant / Loss Tangent）
・搭配 Agilent E4991A / 4291A / 4291B 使用
・適用於高頻材料介電特性精密量測
量測方法（Measurement Method）
・Parallel Plate Method（平行板法）
・將材料夾置於兩電極間形成電容結構
・由分析儀量測電容量並計算介電特性
系統相容與運算（System Compatibility & Calculation）
・Compatible Instruments：
– Agilent E4991A
– Agilent 4291A / 4291B
・搭配 Option 002 Firmware
・自動計算 Relative Complex Permittivity（εr）
・計算方式與 Agilent 16451B 相同
治具設計優勢（Fixture Design Advantage）
・Flexible Electrode Design（可撓式電極）
・電極可自動貼合材料表面
・無需手動調整平行度（相較 16451B）
・提升量測穩定度與重現性
電氣與樣品規格（Electrical & Sample Specifications）
・Frequency Range：1 MHz to 1 GHz
・Sample Type：Smooth Sheets Only
・Sample Thickness：0.3 mm to 3 mm
・Sample Diameter：≥ 15 mm
・適用薄膜、樹脂、基板等介電材料
系統應用與優勢（System Benefits）
・快速建立材料介電模型
・降低治具調整誤差與操作門檻
・適合高頻與高速材料開發
・提升材料選型與品質驗證效率
典型應用（Typical Applications）
・AI 伺服器 / HPC 高速基板與封裝材料介電特性分析
・5G / 6G / LTE / Wi-Fi 6 / Wi-Fi 7 高頻通訊材料測試
・NB-IoT / IoT 模組用基板與絕緣材料驗證
・PCB 基材、封裝樹脂、薄膜材料介電量測
・高速數位與射頻材料選型與比較
・研發實驗室 / QA 驗證 / 材料分析應用
儀器介紹
The Agilent 16453A is designed for accurate dielectric constant and loss tangent measurements on the Agilent E4991A/4291A/B. It employs the parallel plate method, which sandwiches the material between two electrodes to form a capacitor. The Agilent E4991A/4291A/B measures the capacitance created from the fixure, and option 002 firmware calculates the relative complex permittivity as described in the Agilent 16451B. Adjustment to insure parallel electrodes is required when using the Agilent 16451B. This adjustment is not required with the Agilent 16453A because the fixure has a flexible electrode that adjusts automatically to the material surface.