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Tektronix DPO7354C 為 Tektronix 高階 Digital Phosphor Oscilloscope（數位螢光示波器），具備 高頻寬 Real-Time 取樣架構 與 DPO 螢光顯示技術，可即時呈現訊號密度與瞬態異常，特別適合用於高速數位訊號、時序抖動與訊號完整性分析。DPO7000C 系列廣泛應用於高階研發實驗室，可有效加速高速系統設計、除錯與驗證流程。

適用於 高速數位訊號、Timing / Jitter 分析、Eye Diagram 觀測，以及 SI / PI（Signal Integrity / Power Integrity） 與高速介面除錯。

常見應用包含：
✓ AI 伺服器 / 資料中心主機板高速訊號除錯（Clock / Reset / Control / SerDes）
✓ 高速 SerDes、Backplane、Cable 與高速 I/O 介面驗證
✓ 5G / 6G 通訊設備之高速數位與時脈訊號分析（非 RF 調變）
✓ Wi-Fi 6 / Wi-Fi 6E / Wi-Fi 7 晶片與模組高速 I/O 訊號觀測
✓ 高速時脈品質、Timing Margin、Jitter 分析
✓ 電源完整性 PI、PDN Noise、Transient 波形量測
✓ 研發實驗室 / QA / 產線 EOL / ATE 測試環境

我們提供：
· 儀器功能檢測與完整測試
· 現貨 / 客訂支援（依頻寬、通道、應用需求）
· 多型號示波器整體諮詢（Tektronix DPO / MSO / TDS / Keysight Infiniium 等）
· 高價回收示波器與量測設備
· FAE 工程師協助量測架構與高速探棒選型建議（差動 / 高頻 / 高速探棒）

歡迎來電洽詢，提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您快速完成高速量測與驗證需求。

產品介紹

儀器介紹
儀器規格
檔案下載

Ease of use
- Pinpoint® technology provides maximum starting flexibility and efficiency, with over 1,400 combinations to choose from to suit virtually any starting condition
- The visual trigger function allows you to control triggering with great precision and makes it easier to find specific fragments in complex waveforms
- The Advanced Search and Mark feature makes it easy to find specific events on a waveform.
- Customizable windows with MyScope® controls and context menus ensure maximum efficiency
- 53 types of automatic measurements, auxiliary histograms and FFT facilitate waveform analysis
- The TekVPI® probe interface supports automatic scaling and units for active, differential, and current probes
- Vibrant 12.1-inch (307 mm) XGA touchscreen display

主要規格與效能（Core Specifications）

產品定位與適用場景（Product Positioning）

• DPO7354C 屬於 Real-Time Digital Phosphor Oscilloscope（即時數位螢光示波器）
• 專為高速數位訊號、SerDes、Clock、訊號完整性（SI）與電源完整性（PI）分析設計
• 適用於 AI 伺服器、資料中心、高速運算平台與通訊設備之硬體除錯與驗證
• 適合研發實驗室、QA 與產線 EOL / ATE 測試環境

頻寬與取樣效能（Bandwidth & Sampling Performance）

• 提供 3.5 GHz / 2.5 GHz / 1 GHz / 500 MHz 頻寬機型
• Real-time Sampling Rate：
　Up to 40 GS/s（1 Channel）
　Up to 20 GS/s（2 Channels）
　Up to 10 GS/s（3–4 Channels）
• 使用者可選擇頻寬限制濾波器，提升低頻與雜訊環境下的量測準確度

波形擷取與記錄效能（Acquisition & Record Length）

• 採用 DPO / DPX® Acquisition Technology，可即時顯示訊號密度與瞬態異常
• Maximum Waveform Capture Rate（FastAcq™）：>250,000 wfms/s
• FastFrame™ Segmented Memory 模式：>310,000 wfms/s
• Record Length（MultiView Zoom™）：Up to 500 Mpoints
• 可快速捕捉低發生率 Glitch、Intermittent Fault 與瞬態事件

觸發能力與事件定位（Triggering & Event Detection）

• Pinpoint® Triggering Technology，提供超過 1,400 種觸發組合
• Visual Trigger，精準控制觸發條件，快速定位複雜波形片段
• Advanced Search & Mark，可於長時間記錄中搜尋與標記事件
• Powerful Triggering Features，適用於高速系統除錯與異常偵測

序列匯流排觸發與分析（Serial Bus Trigger & Analysis）

• 支援序列匯流排自動觸發、解碼與搜尋：
　I2C、SPI、CAN、LIN、FlexRay、RS-232 / 422 / 485 / UART、MIL-STD-1553、USB 2.0
• 進階序列分析（依選配）：
　MIPI® D-PHY DSI-1 / CSI-2、8b/10b、PCI Express
• 支援序列資料 Clock Recovery
• 可針對 64-bit NRZ Serial Clock 進行觸發（Up to 1.25 Gbps），用於定位 Pattern-dependent effects

進階分析與量測應用（Advanced Measurement & Analysis）

• 支援 Jitter、Timing、Eye Diagram 分析
• 支援 Power Supply / PI / PDN Noise / Transient 量測
• 支援 DDR Memory Bus 與 Wideband RF Analysis（非 RF 調變）
• 支援 Limit 與 Mask Testing，提供合規與品質檢查能力

操作介面與系統整合（User Interface & System Integration）

• MyScope® Custom Control Windows，可依使用情境自訂操作畫面
• Right-Mouse-Click Menus，加速量測與設定流程
• 12.1 吋 XGA 觸控式顯示螢幕
• TekVPI® 探棒介面，支援主動式、差動與電流探棒自動辨識
• 作業系統：64-bit Microsoft Windows 7 OS
• USB Host（前面板與側邊）、10/100/1000 Base-T Ethernet
• 支援外部顯示輸出，符合 LXI Class C，適合自動化測試系統整合

Tektronix DPO7354C datasheet: DPO7354C