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Tektronix TDS7704B Digital Sampling Oscilloscope
支援型號：TDS7704B（7 GHz）
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Tektronix TDS7704B 為 Tektronix 經典高效能 Digital Sampling Oscilloscope（數位取樣示波器），具備 7 GHz 類比頻寬 與高精度取樣架構，專為 高速重複性訊號、超高速邊緣、抖動與眼圖分析 所設計。TDS7700 系列長期應用於高速通訊、光電模組與高速介面驗證，可精準量測極小時間抖動與波形細節，廣泛用於高階研發與驗證環境。
適用於 高速數位與光電訊號觀測、Eye Diagram、Timing / Jitter 分析，以及高速介面與模組之訊號品質評估。
常見應用包含：
✓ AI 伺服器 / 資料中心高速互連（Backplane / Cable / 高速 Clock）
✓ 高速 SerDes、光電模組（Optical Transceiver）眼圖與抖動分析
✓ 5G / 6G / Wi-Fi 6 / Wi-Fi 7 設備之高速數位與光電介面驗證
✓ 高速時脈、低抖動 Clock、Timing Margin 測試
✓ 高速通訊介面（非 RF）波形品質量測
✓ 研發實驗室 / QA / 產線驗證環境
我們提供：
· 儀器功能檢測與完整測試
· 現貨 / 客訂支援（依頻寬與應用需求）
· 多型號高速示波器諮詢（Tektronix TDS / DPO / MSO / Keysight Infiniium 等）
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· FAE 工程師協助高速量測架構與探棒選型建議（取樣示波 / 高頻探棒）
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- 儀器介紹
- 儀器規格
- 檔案下載
The Tektronix TDS7704B 7GHz 4CH 20GSa/s Oscilloscope’s unique combination of superior measurement fidelity, unrivaled analysis, and uncompromised usability makes it the ultimate test machine to simplify and speed the design of high-speed, complex systems. This family offers the industry’s best solution to the challenging signal integrity issues faced by designers verifying, characterizing, and debugging sophisticated electronic designs.
They deliver up to 7.25 GHz (typical) true analog bandwidth, down to 43 ps rise time (20% – 80%), and 20 GS/s maximum real-time sample rate to capture critical events with fine detail. Exclusive DPX® acquisition technology enables waveform capture rates up to 400,000 wfms/s to quickly find rare glitches in seconds or minutes, instead of hours or days. Innovative software solutions deliver domain expertise for advanced analysis and compliance testing, while the OpenChoice® architecture enables users to integrate their expertise through the ability to easily write custom programs or utilize popular commercial software. The intuitive graphical user interface delivers sophisticated capability to advanced users without intimidating occasional users.
主要規格與效能（Core Specifications）
系列定位與量測能力
• TDS7704B Digital Sampling Oscilloscope（數位取樣示波器）
• 專為高速、重複性數位與光電訊號之量測與分析設計
• 適用於高速訊號完整性（Signal Integrity）、抖動（Jitter）與眼圖（Eye Diagram）分析
• 適合用於高速電子系統之驗證、特性分析與除錯
頻寬與上升時間（Bandwidth & Rise Time）
• True Analog Bandwidth：Up to 7.25 GHz（Typical）
• Rise Time：Down to 43 ps（20%–80%）
取樣效能（Sampling Performance）
• Maximum Real-time Sample Rate：20 GS/s
• Exceptional Delta-Time Accuracy，提升關鍵時序量測信心
波形擷取效能（Waveform Capture Performance）
• Waveform Capture Rate：>400,000 waveforms/s
• 採用 DPX® Acquisition Technology，可快速擷取低發生率異常與 Glitch
記錄長度與資料瀏覽（Record Length & Navigation）
• Record Length：Up to 64 MB
• 支援 MultiView Zoom™，快速瀏覽與定位長時間資料
觸發與序列分析（Triggering & Serial Analysis）
• 強大 Triggering 功能，可快速偵測相關異常事件
• Communications Mask Testing：Up to 4.25 Gb/s
• Clock Recovery from Serial Data Streams：Up to 3.125 Gb/s
操作介面與軟體（User Interface & Software）
• MyScope® Custom Control Windows，提升操作與量測效率
• Right-Mouse-Click Menus，簡化設定流程
• OpenChoice® Software（Microsoft Windows 2000 OS），支援網路與分析整合
顯示與連接介面（Display & Connectivity）
• Display：XGA 1024 × 768
• TekConnect® Interface，提供高保真訊號連接
• 支援前面板控制、觸控顯示或滑鼠操作
典型應用（Applications）
• AI 伺服器 / 資料中心高速互連與時脈訊號分析
• 高速 SerDes、Backplane、Cable 與光電模組眼圖與抖動量測
• 5G / 6G / Wi-Fi 6 / Wi-Fi 7 設備之高速數位與光電介面驗證（非 RF 調變）
• 高速 Clock Recovery、Timing Margin 與 Jitter Characterization
• 研發實驗室、QA 與產線高速驗證環境
Tektronix TDS7704B datasheet: TDS 7704B