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Tektronix DSA8200 為 Tektronix 經典高階 Sampling Oscilloscope / Digital Serial Analyzer（數位串列取樣示波分析平台），採模組化架構設計，可搭配多款高速取樣模組進行電性與光學訊號量測，提供 Eye Diagram、Jitter Analysis、Mask Test 等核心功能，廣泛應用於高速序列通訊、SerDes 介面驗證與高速鏈路品質分析。
DSA8200 特別適合用於超高速資料率下之低抖動眼圖量測與規範符合性測試，常見於研發、實驗室與產線驗證環境。

常見應用場域，適用於：
✓ AI 伺服器 / GPU Cluster 高速序列鏈路驗證
（SerDes、Clock/Data Recovery、Tx/Rx 眼圖與抖動分析）
✓ Data Center / AI 機櫃高速互連測試
（高速背板、線纜、電性互連 Eye Diagram / Mask Test）
✓ 高速數位序列介面驗證
（PCIe、SAS、SATA、Ethernet 等，依模組與軟體配置）
✓ 高速時脈與抖動量測
（Clock Jitter / Timing Margin 分析）
✓ 研發實驗室、QA、產線 EOL / ATE 測試環境

我們提供：
・高速取樣示波器與 DSA 系統功能檢測與驗證
・現貨／客訂可（依主機、取樣模組、軟體選項供貨）
・多型號高速取樣示波與序列分析設備諮詢
（Tektronix DSA / Sampling Oscilloscope / Serial Analyzer 系列）
・高價回收高速量測與通訊分析設備
・FAE 工程師協助量測架構與測試項目建議
（Eye Diagram / Jitter / Mask Test / AI 伺服器高速鏈路）

歡迎來電洽詢，提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您快速完成 AI 伺服器與 Data Center 高速數位序列鏈路之量測與驗證需求。

產品介紹

儀器介紹
儀器規格
檔案下載

State-of-the-Art Sampling Oscilloscope for Communication Signal Analysis, TDR / TDT / Serial Data Network Analysis, Acquisition, and Measurements of Repetitive Ultrafast Signals
- Acquisition of Spread Spectrum Clocking (SSC) Signals
- Industry’s Only Mainframe to Support up to 8 Input Channels for Increased Flexibility and Throughput
- Four Color-graded, Variable Persistence Waveform Databases
- Measurement System with Over 100 Automated Measurements
- Complete Suite of Communications Measurements includes Both Types of OMA, SSC Profile, and Many Others
- Automated ITU/ANSI/IEEE Mask Testing
- Masks and Measurements for SONET/SDH, FC, Ethernet, and Other Standards Built-in
- Mask Updates can be Loaded from Factory-supplied File
- Mask Margin Testing for Guard Banding Production Testing

Tektronix DSA8200 Digital Serial Analyzer 為高階 Sampling Oscilloscope / Digital Serial Analyzer（高速取樣示波與數位串列分析平台），採模組化架構設計，可搭配多款電性與光學取樣模組，支援 Eye Diagram、Jitter / Noise / BER 分析、Mask Test、TDR / TDT 與 S-parameter 量測，適用於高速序列通訊、SerDes、AI 伺服器與資料中心高速互連之研發、驗證與產線測試應用。

模組化架構（Modular Acquisition Platform）

主機搭配 Plug-in Acquisition Modules 模組化架構
Modular mainframe with plug-in acquisition modules
支援整合式多速率光學取樣模組
Fully integrated multirate optical modules
光學取樣模組最高可達 80 GHz（80C10B）（依模組）
Optical modules up to 80 GHz (module dependent)
電性取樣模組最高可達 70+ GHz 頻寬，10–90% 上升時間低至 5 ps
Electrical modules up to 70+ GHz bandwidth, 5 ps rise time
部分模組支援 ER 校正之高精度量測
High-accuracy ER-calibrated measurements (module dependent)
支援 Flexible Rate Clock Recovery 與 SSC（Spread Spectrum Clocking）
Flexible rate clock recovery with SSC support

眼圖與序列鏈路分析（Eye Diagram & Serial Data Analysis）

支援 Electrical / Optical Eye Diagram 量測（依模組）
Electrical & optical eye diagram measurements
可區分 Deterministic Jitter（DJ）與 Random Jitter（RJ）
Separation of deterministic and random jitter components
可量測垂直雜訊並分離資料相關雜訊與隨機雜訊
Vertical noise characterization and noise separation
高精度 BER 與 Eye Contour Estimation，支援 DDPWS
支援 FFE / DFE 等化 與發射端等化分析
可進行 高損耗通道模擬（>30 dB loss）
支援治具去嵌（Fixture De-embedding）與線性濾波
Linear filtering for fixture de-embedding

抖動與時序分析（Jitter / Timing Analysis）

具備業界頂級 Time-base Jitter Performance
Typical performance達 800 fs RMS
搭配 Phase Reference Module 可達 <200 fs RMS（選配）
適用於高速時脈品質、抖動分離與時序穩定度分析
Ideal for clock quality & jitter troubleshooting

TDR / TDT 量測（Time Domain Reflectometry）

支援 TDR 頻寬最高 50 GHz
反射上升時間 15 ps，入射上升時間 12 ps
具備低雜訊特性，50 GHz 下 600 µVrms
獨立 Sampler Deskew，方便治具與探棒去嵌
業界唯一可支援 最多四組真正差動 TDR 或電性通道對 的主機平台
Enables advanced differential channel characterization

S 參數量測（S-parameter Measurements）

支援 最高 50 GHz 差動、單端與混合模式 S-parameter 量測
（Insertion Loss、Return Loss、Crosstalk、Mode Conversion）
適用於 PCI Express、SATA、InfiniBand、Gigabit Ethernet
支援高速訊號路徑與互連之標準符合性測試
支援快速、多埠、自動化 S-parameter 量測（CLI 介面）

進階量測與系統特性（Advanced Measurement Features）

高速擷取率與高系統吞吐量
Remote Sampler 架構，可將取樣器放置於 DUT 附近以提升訊號真實度
FrameScan™ 擷取模式，支援眼圖平均、資料相關錯誤隔離
適合低功耗與低振幅訊號分析
支援第三方軟體整合與自動化測試環境

AI 相關應用（AI / Data Center Applications）

AI 伺服器 / GPU Cluster 高速序列鏈路驗證
資料中心高速背板、線纜與電性互連眼圖與抖動分析
SerDes（NRZ / PAM4）通道品質、BER 與相容性測試
適用於高速運算與資料中心關鍵互連之研發與量產驗證

Tektronix DSA8200 datasheet: DSA8200