二手儀器-中古儀器-儀器維修-儀器租賃-儀器買賣-收購服務-弘燁科技

Agilent 4156C 為業界廣泛使用的 半導體參數分析儀（Semiconductor Parameter Analyzer），整合多通道 SMU（Source/Measure Unit） 與電壓源/量測能力，可精準量測半導體元件與材料的 I-V 特性（電流-電壓曲線），是元件研發、製程驗證與失效分析常用的核心量測設備。

4156C 可支援各類元件的電性評估，包含 MOSFET、Diode、BJT、JFET、LED、TFT、感測器、功率元件（Power device） 等。常用於量測 漏電流（Leakage）、臨界電壓（Vth）、崩潰電壓（Breakdown）、轉移特性（Id-Vg）、輸出特性（Id-Vd），並可搭配探針台（Wafer Prober）進行晶圓級量測與製程監控。

適用量測/應用包含：

✓ 半導體元件 I-V 特性量測（IV curve / sweeping）
✓ MOSFET / TFT 轉移特性與輸出特性（Id-Vg / Id-Vd）
✓ Leakage 漏電、Breakdown 崩潰測試
✓ 材料/元件研究（薄膜、接觸特性、元件可靠度）
✓ Wafer probing 晶圓探針量測（製程/良率監控）
✓ QA/產線檢驗、Failure Analysis（失效分析）

我們同時可提供工程支援

・儀器功能檢測與交機驗證（到貨可立即投入量測）
・多型號比較諮詢（4156C / 4155C / 4156A 等同級推薦）
・高價回收舊機/汰換方案（參數分析儀、SMU、電性量測設備）
・FAE 工程師依需求提供 測試架構建議（探針台/線材/治具配置）
・可協助搭配 Triax cable、轉接頭、測試治具、探針台配件 等完整量測方案

歡迎詢價洽談，弘燁科技提供最快速、最符合需求的 Parameter Analyzer 解決方案。

產品介紹

儀器介紹
儀器規格
檔案下載

Highly accurate parameter analyzer for advanced device characterization
4x High-resolution SMU, 2xVSU and 2xVMU
Fill-in-the blanks front panel operation
1 femtoamp and 0.2 microvolt measurement resolution
QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, Stand-by function

The Keysight 4156C Precision Semiconductor Parameter Analyzer is a highly accurate laboratory bench top solution for advanced device characterization. The 41501B Expander extends your capabilities to 1A/200V, and add a low noise ground unit and dual pulse generators on the 4156C.

Agilent 4156C parameter analyzer
HP 4156C semiconductor parameter analyzer
4156C HRSMU / VSU / VMU
1fA SMU ultra low leakage
Kelvin / Guard terminal SMU
QSCV quasi static C-V
On wafer reliability stress mode
MOSFET Id-Vg / Id-Vd measurement
TFT transfer curve / output curve
Diode leakage / breakdown IV
Pulse IV measurement
Device characterization system
Wafer prober parameter analyzer

Agilent / HP 4156C Semiconductor Parameter Analyzer（半導體參數分析儀） 為半導體元件 I-V 特性量測、可靠度測試與製程參數萃取的主力設備，適用於 MOSFET / TFT / Diode / BJT / Power Device 等元件分析，支援 超低電流漏電量測、脈衝量測、On-wafer reliability 等進階功能。

內建通道與量測架構

內建 4 組高解析 Source/Monitor Unit（HRSMU）
Four built-in high-resolution source/monitor units (HRSMU)
內建 2 組 Voltage Source Unit（VSU）
內建 2 組 Voltage Monitor Unit（VMU）

超高解析度量測能力

量測解析度：1 fA / 0.2 µV
Measurement resolution: 1 fA and 0.2 µV
可進行 超低漏電（ultra-low leakage） 元件特性量測
Measures leakage characteristics with ultra-low leakage SMUs

Kelvin / Guard 設計（低漏電量測）

Full Kelvin 架構：每個 HRSMU 具備 Force / Sense / Guard terminals
Full Kelvin: force, sense, and guard terminals for each HRSMU
→ 有效降低漏電與雜訊，提升低電流/高阻抗元件量測準確度

QSCV / C-V related capability

支援 Quasi-Static Capacitance vs Voltage（QSCV）
Performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements
→ 適用於氧化層、介電層與半導體結構的電性分析（工藝驗證常用）

自動參數萃取 / 製程參數分析

可自動萃取 Process Parameters
Automatically extracts process parameters without manually manipulating screen markers
→ 減少人工拉 marker 誤差，提高量測效率

脈衝量測與自動化特性分析

內建 Pulse Generators + Selector Switches
Automates device characterization with integrated pulse generators and selector switches
→ 可進行脈衝 I-V 量測、降低 self-heating 影響（功率元件/高速元件常用）

Reliability / Stress 測試（On-wafer）

內建 Stressing modes 支援晶圓級可靠度測試
On-wafer reliability tests with built-in stressing modes
支援 Stress Mode / Stand-by function（可靠度試驗常用）

量測操作與資料分析

Point-and-click GUI 圖形化介面操作
Point-and-click measurements with graphical user interface
Windows 環境圖形化分析
Provides graphical data analysis capabilities with a Windows environment
內建功能：QSCV / Stress Mode / Knob-sweep / Stand-by
Triggering modes 支援同步 AC/DC 量測
Triggering modes allow synchronized AC/DC measurements
IBASIC user functions 可自動化量測、資料繪圖分析
IBASIC user functions allow data to be plotted and analyzed

Agilent / HP 4156C Semiconductor Parameter Analyzer DATASHEET : Agilent 4156C