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HP 4145A / 4145B 為 HP 經典 Semiconductor Parameter Analyzer（半導體參數分析儀），專為半導體元件 I-V 特性分析與製程驗證設計。具備高解析度電流電壓量測能力，可精準量測微電流、崩潰電壓與元件轉移特性，適用於 MOSFET、BJT、Diode、功率元件與材料研究。廣泛應用於晶圓製程開發、失效分析與研發驗證環境。

✓ AI 伺服器電源管理 IC / GPU Power Device 測試
✓ 5G / 6G / LTE / WiFi 6 / WiFi 7 / NB-IoT 通訊晶片開發驗證
✓ GaN / SiC 第三代半導體功率元件分析
✓ MOSFET / BJT / IGBT / Diode 元件 I-V Curve 測試
✓ 晶圓級（Wafer Level）特性量測
✓ 研發驗證 / QA / 製程可靠度分析

我們提供：

・儀器功能完整檢測與驗證
・現貨 / 客訂均可（依通道與模組配置供貨）
・完整配件與測試整合支援
・高價回收舊儀器
・FAE 工程師協助量測規劃與應用建議

歡迎來電諮詢，提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您完成半導體元件開發與製程驗證需求。

產品介紹

儀器介紹
儀器規格
檔案下載

The Agilent / HP 4145B Semiconductor Parameter Analyzer is capable of complete dc characterization of semiconductor devices and materials. It stimulates voltage and current sensitive devices, measures the resulting current and voltage response, and displays the results in a user-selectable format.3.5 inch floppy is built in for storage capability.

HP/Agilent 4145B 4145A Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀二手儀器/買賣/租賃/出租/購買/價格

歡迎來電諮詢,謝謝

主要規格與效能（ Core Specifications ）

產品定位（ Product Overview ）

．HP 4145B Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀
．專為 semiconductor devices 與材料之 complete DC characterization 設計
．可對電壓與電流敏感元件進行刺激與響應量測
．支援 I-V 特性分析與製程驗證應用
．內建 3.5 inch micro flexible disc drive 提供資料儲存功能

量測能力（ Measurement Capability ）

．Fully automatic, high-speed DC characterization
．High resolution, wide range sourcing and measurement
．最大 1150 measurement and display points
．適用於精準元件特性量測與分析

圖形分析功能（ Graphic Analysis Functions ）

．Flexible graphic analysis functions
．快速進行 parameter extraction
．支援 I-V curve 圖形顯示與數據比較
．提升研發與製程開發效率

儲存與資料管理（ Storage & Data Handling ）

．Built-in micro flexible disc drive
．支援測試資料儲存與記錄
．適用於長期研發與製程追蹤管理

應用領域（ Applications ）

．MOSFET / BJT / Diode / IGBT 元件 DC 特性量測
．GaN / SiC 功率元件分析
．晶圓級（Wafer Level）I-V Characterization
．AI 伺服器電源管理 IC 開發驗證
．5G / 6G / LTE / WiFi 6 / WiFi 7 / NB-IoT 通訊晶片測試
．研發驗證 / QA / 失效分析環境

HP 4145A / 4145B datasheet: Keysight_4145B