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【弘燁科技】Hioki 3540 DC Milliohm HiTester 直流毫歐姆低電阻量測儀
【弘燁科技】Hioki 3540 DC Milliohm HiTester 直流毫歐姆低電阻量測儀

【弘燁科技・專業量測設備/校驗維修服務】
Hioki 3540 DC Milliohm HiTester
適用於超低電阻量測|接觸電阻測試|導通品質分析|功率元件可靠度驗證

 

我們提供完整服務:
全新/二手儀器買賣|租賃|出售|回收收購|維修保養|校驗校正

 

Hioki 3540 為 Hioki E.E. Corporation 高精度直流毫歐姆量測儀,專為微小電阻與導體導通品質測試所設計,支援四線式 Kelvin 量測架構,可有效消除導線與接點誤差,提供高穩定、高重現性的低阻值量測結果,適合研發與量產品質控管環境。

3540 具備低功率量測與高速測試能力,可精準分析接觸電阻、線材阻抗與功率導體損耗,廣泛應用於高可靠度電子系統、電源模組與高速連接元件驗證。

常見於高速電子與半導體/功率應用,適用於:

✓ AI 伺服器電源模組與匯流排導通電阻測試
✓ 高速連接器與接點品質驗證
✓ 5G / 6G 通訊設備功率導體導通分析
✓ WiFi 6 / WiFi 7 高速通訊設備電源路徑測試
✓ LTE/NB-IoT 裝置功率線路導通檢測
✓ 半導體功率元件與封裝導通品質評估
✓ 電池模組、繼電器與高電流端子測試
✓ 研發實驗室/QA/產線 EOL/ATE 應用

 

我們提供:

・儀器功能檢測與完整校驗
・現貨/客訂供應(依量測電流與測試需求配置)
・多品牌低電阻量測設備比較諮詢
・高價回收毫歐姆量測儀與電性測試設備
・FAE 工程師協助治具選型與導通量測流程規劃

 

歡迎來電洽詢,提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排,協助您快速完成低阻抗與導通品質驗證需求。

 

 

 

 

產品介紹
  • 儀器介紹
  • 儀器規格
  • 檔案下載

The mΩ HiTESTER 3540 is a high performance low resistance tester that includes a comparator function essential for component sorting, fast 16-times-per-second sampling, temperature compensation and autoranging, and a choice of interfaces to meet your measurement needs. The standard 3540 is the economical version without external control interfaces, making it the no-fuss solution for manual testing. For more advanced system integration capabilities, select Model 3540-01 for a built-in BCD output interface providing for external control, Model 3540-02 to output measurement results to a printer, and Model 3540-03 to add PC compatibility via a built-in RS-232C interface.

主要規格與效能(Core Specifications)

產品定位(Product Overview)

・由 Hioki E.E. Corporation 推出之 DC Milliohm HiTester 直流毫歐姆低電阻量測儀
・專為低電阻元件、接觸電阻與導通品質高速量測設計
・具備比較器分選功能,適合人工測試與自動化產線應用


量測範圍與精度(Measurement Range & Accuracy)

・Resistance Range:30 mΩ to 30 kΩ(7 Ranges)
・Display Resolution:3500 Full Digits

精度表現:
・±0.1% rdg. ±6 dgt(30 mΩ、3 Ω range)
・±0.1% rdg. ±4 dgt(300 mΩ、30 Ω to 30 kΩ range)


測試電流(Measurement Current)

・100 mA(30 mΩ range)


最大量測電壓(Max. Applied Measurement Voltage)

・3.5 mV DC(30 mΩ range)
・350 mV DC(30 kΩ range)


取樣速度(Sampling Speed)

・Fast:16 times/second
・Slow:4 times/second


反應時間(Response Time)

・Fast:約 100 ms
・Slow:約 300 ms


顯示系統(Display)

・3500 Full Digits LCD(液晶顯示)


量測方式(Measurement Method)

・Four-terminal Method(四線式 Kelvin 量測)


開路端電壓(Open-circuit Terminal Voltage)

・4.0 V Max(全量程適用)


數位輸入輸出(Digital I/O – Optional Versions)

(3540-01 / 3540-02 / 3540-03 專用)

・TTL Output BCD
・External Control I/O
・Printer Output
・RS-232C PC Communication


比較器功能(Comparator Functions)

・Upper / Lower Limit 或 Reference ± % 設定
・Up to 7 Tables 儲存
・Output Levels:Hi / In / Lo
・Open-collector、LED 顯示、蜂鳴提示


電源系統(Power Supply)

・Dual Power System:
 – AA Batteries ×6
 – Optional AC Adapter(9 V, 1.4 A)


進階功能與特性(Advanced Features)

・Comparator Sorting(高速元件分選)
・Dual Comparator Mode(雙比較模式)
・Temperature Compensation(溫度補償)
・Auto-ranging Function(自動量程切換)
・Fast Quality Determination(快速良率判定)
・Four-terminal High Accuracy Method


系統整合與特性(System Integration & Features)

・高速 16 次/秒量測適合大量測試
・支援手動測試與自動化產線整合
・低功率測試避免元件發熱影響
・高穩定性導通品質分析


典型應用(Typical Applications)

・AI 伺服器電源模組匯流排導通電阻測試
・高速連接器與端子接觸電阻品質控管
・5G / 6G 通訊設備功率模組導通分析
・WiFi 6 / WiFi 7 高速設備電源線路驗證
・LTE/NB-IoT 通訊裝置導通品質測試
・半導體功率元件與封裝導通特性檢測
・電池模組、繼電器與高電流導體量測
・研發實驗室/QA/產線 EOL/ATE 應用

Hioki 3540 datasheet: 3540_en