產品介紹
產品定位：Keysight E5260A 半導體參數分析儀｜Semiconductor Parameter Analyzer｜I-V 特性量測｜SMU 屬於源量測單元（SMU）與精密 I-V 測試設備，可用於半導體元件、感測器、材料、太陽能電池、二極體、LED 與研發／品保 I-V 特性驗證。
選型重點：實際輸出與量測範圍會依機身型號、韌體、附件與校正狀態而不同。評估 E5260A 時，建議同步確認電壓／電流範圍、量測解析度、通道數、四線式量測、介面、附件、校正狀態與保護條件。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Keysight / Agilent / HP，產品分類為 半導體與元件 I-V 量測。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
Keysight N1000A DCA-X 為高速 Sampling Oscilloscope / Eye Diagram Analyzer（取樣示波器/眼圖分析平台），採用 模組化 Plug-in 架構，可依需求配置高速電性與光學量測模組，支援 Electrical/Optical Eye Diagram、Jitter Analysis、Mask Test 等核心功能，適用於 SerDes 高速鏈路、PAM4/NRZ 光電通訊、以及 AI 伺服器/資料中心高速互連之驗證、除錯與產線測試。
1) 模組化平台（Modular DCA-X Platform）
DCA-X Mainframe 主機 + Plug-in 模組架構
Modular mainframe with plug-in measurement modules 支援多種量測模組（依配置）：
Electrical sampling modules（高速電性取樣模組）
Optical modules（光學取樣/光眼圖模組）
可依應用擴充功能與通道，適合 R&D / QA / 產線 EOL Flexible scalability for lab and manufacturing use
2) 眼圖量測（Eye Diagram Measurements）
支援 Electrical Eye / Optical Eye（依模組配置）
Electrical & optical eye diagram measurements
支援 NRZ / PAM4 訊號分析（依模組/軟體）
Eye margin measurement and waveform characterization
Ideal for SerDes timing troubleshooting and validation
支援 Mask Test（Pass/Fail）遮罩測試（依軟體/選配）
Mask testing for compliance validation (software option dependent)
Suitable for QA and manufacturing screening
5) 高速 SerDes / 光通訊應用（High-Speed / Optical）
適用於高速串列鏈路驗證：SerDes / High-speed I/O High-speed serial link validation and debug 適用於光收發器/光模組測試：QSFP / OSFP / SFP Transceiver
Transceiver characterization and optical/electrical compliance tests 常見資料中心互連應用（依配置）： 400G / 200G / 100G Ethernet、PAM4 optical/electrical testing
6) AI 伺服器周邊相關應用（AI Server / HPC）
N1000A DCA-X 常見於 AI/HPC 資料中心的高速硬體驗證，包含：
PCIe / CXL 高速 I/O link debug、signal integrity 驗證（依配置）
retimer/redriver validation and link margin testing
AI Cluster 網路與光模組互連測試
400G/800G 光模組與高速鏈路一致性驗證（依模組/軟體）
支援自動化測試整合（R&D / QA / Manufacturing）
Automation-ready for lab and production environments
適用大量測點、長時間監測與報告產出流程
Suitable for regression tests and production workflows
原廠英文說明
Modular DCA-X sampling oscilloscope platform for high-speed electrical / optical waveform analysis Supports Electrical & Optical Eye Diagram measurements (NRZ / PAM4, depends on plug-in modules) Provides comprehensive Jitter Analysis and Mask Test for compliance and validation
Plug-in architecture supports multiple DCA-X measurement modules (electrical sampling modules & optical modules) Ideal for high-speed serial links / SerDes validation, debug and characterization Enables testing for data center interconnects and transceiver modules (QSFP / OSFP / SFP)
Supports clock / timing / jitter characterization and waveform integrity analysis High repeatability sampling measurements for signal integrity (SI) validation Automation-ready for R&D, QA and manufacturing test environments (remote control, depending on configuration)
Common applications: 400G/200G/100G Ethernet, PAM4 optical/electrical compliance testing AI server / HPC related applications: PCIe / CXL high-speed I/O, retimer/redriver validation, and link margin testing Designed for transceiver / optical module characterization and validation for modern data center networks