Keysight 86100D DCA-X 取樣示波器｜Sampling Oscilloscope｜Eye Diagram / Jitter / Mask Test｜Optical & Electrical
Keysight 86100D DCA-X 取樣示波器｜Sampling Oscilloscope｜Eye Diagram / Jitter / Mask Test｜Optical & Electrical 屬於示波器、混合訊號與時域波形分析設備，可用於波形量測、時序分析、電源完整性、數位訊號除錯、嵌入式系統驗證與維修測試。弘燁科技可協助確認庫存、附件、校正、交期與替代型號。
產品介紹
產品定位：Keysight 86100D DCA-X 取樣示波器｜Sampling Oscilloscope｜Eye Diagram / Jitter / Mask Test｜Optical & Electrical 屬於示波器、混合訊號與時域波形分析設備，可用於波形量測、時序分析、電源完整性、數位訊號除錯、嵌入式系統驗證與維修測試。
選型重點：實際可用頻寬、取樣率與分析功能需依機身配置、探棒與選配確認。評估 86100D 時，建議同步確認頻寬、通道數、取樣率、記憶體深度、探棒附件、觸發／解碼功能與校正狀態。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Keysight / Agilent / HP，產品分類為 時域／波形量測儀器。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
Keysight 86100D DCA-X 為旗艦級 Sampling Oscilloscope（取樣示波器）/ Wide-Bandwidth Oscilloscope Mainframe 平台，採用 模組化 Plug-in 架構，可依量測需求搭配高速電性與光學量測模組，提供 Eye Diagram 眼圖、Jitter 抖動分析、Mask Test 遮罩測試 等高速訊號驗證能力，廣泛應用於 SerDes / Transceiver / Data Center（400G/200G/100G） 測試環境。
模組化主機架構（Modular Mainframe Platform）
DCA-X Mainframe 主機 + Plug-in 模組架構
Modular mainframe with plug-in measurement modules
依測試需求可配置 Electrical / Optical 模組（依模組配置）
Supports electrical and optical measurement modules 常見相容模組（依需求選配）： 86105D / 86106D / 86107A / 86108B（Electrical sampling modules）
Optical modules（光學取樣模組，依配置）
眼圖測試（Eye Diagram Measurements）
支援 Electrical Eye / Optical Eye（依模組配置）
Electrical and optical eye diagram measurements
可用於 NRZ / PAM4 高速訊號分析（依模組/應用）
適用於高速互連與光收發器測試：QSFP / OSFP / SFP 等
Jitter and timing characterization for high-speed links 適用 Clock / Data recovery、SerDes link debug 等場景
支援 Mask Test（Pass/Fail） 遮罩量測（依應用套件）
Suitable for R&D, QA, and manufacturing pass/fail testing
適用標準與應用（Applications）
Data center interconnect and high-speed link validation
SerDes / High-speed I/O：高速背板、模組、光電轉換測試 SerDes/high-speed I/O debug and characterization
支援自動化測試流程整合（R&D / QA / Manufacturing）
Automation-ready platform for lab and production environments
可整合自動化測試系統與報告輸出（依軟體/配置）
Supports automated measurement and reporting workflows
原廠英文說明
Modular wide-bandwidth oscilloscope mainframe for high-speed electrical / optical waveform analysis Supports Electrical & Optical Eye Diagram measurements (NRZ / PAM4, depends on plug-in modules) Comprehensive Jitter Analysis and Mask Test for compliance and validation
Plug-in architecture supports multiple modules: 86105D / 86106D / 86107A / 86108B and optical modules Ideal for high-speed serial links / SerDes validation and debugging Enables testing for data center interconnects and transceiver modules (QSFP / OSFP / SFP)
Supports clock / timing / jitter characterization and waveform analysis High repeatability sampling measurement for signal integrity validation Automation-ready for R&D, QA and manufacturing test environments (remote control, depending on configuration)
Common applications: 400G/200G/100G Ethernet, PAM4 optical/electrical compliance testing Supports PAM4 / NRZ eye diagram measurements for high-speed standards (depends on modules) Designed for transceiver / optical module characterization and validation