產品介紹
Keysight 86100D DCA-X 為業界最常用的旗艦級 取樣示波器（Sampling Oscilloscope） 平台，採用模組化架構，可依測試需求搭配高速電性與光學量測模組，提供 高頻寬眼圖（Eye Diagram）分析、抖動（Jitter）量測、Mask Test 等完整高速訊號驗證能力。
規格
Keysight 86100D DCA-X 為旗艦級 Sampling Oscilloscope（取樣示波器）/ Wide-Bandwidth Oscilloscope Mainframe 平台，採用 模組化 Plug-in 架構，可依量測需求搭配高速電性與光學量測模組，提供 Eye Diagram 眼圖、Jitter 抖動分析、Mask Test 遮罩測試 等高速訊號驗證能力，廣泛應用於 SerDes / Transceiver / Data Center（400G/200G/100G） 測試環境。
模組化主機架構（Modular Mainframe Platform）
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DCA-X Mainframe 主機 + Plug-in 模組架構
Modular mainframe with plug-in measurement modules -
依測試需求可配置 Electrical / Optical 模組（依模組配置）
Supports electrical and optical measurement modules -
常見相容模組（依需求選配）：
86105D / 86106D / 86107A / 86108B（Electrical sampling modules）
Optical modules（光學取樣模組，依配置）
眼圖測試（Eye Diagram Measurements）
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支援 Electrical Eye / Optical Eye（依模組配置）
Electrical and optical eye diagram measurements -
可用於 NRZ / PAM4 高速訊號分析（依模組/應用）
NRZ & PAM4 analysis capability (depending on configuration) -
適用於高速互連與光收發器測試：QSFP / OSFP / SFP 等
Suitable for transceiver module evaluation
抖動分析與時序驗證（Jitter / Timing Analysis）
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支援 Jitter Analysis / Timing Analysis
Jitter and timing characterization for high-speed links -
適用 Clock / Data recovery、SerDes link debug 等場景
Ideal for SerDes validation and debug
遮罩測試（Mask Test / Compliance）
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支援 Mask Test（Pass/Fail） 遮罩量測（依應用套件）
Mask testing for compliance validation (option dependent) -
適用於規範驗證、研發除錯、產線 EOL 判定
Suitable for R&D, QA, and manufacturing pass/fail testing
適用標準與應用（Applications）
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400G / 200G / 100G Ethernet、資料中心高速鏈路測試
Data center interconnect and high-speed link validation -
PAM4 / NRZ 眼圖與抖動分析（高速通訊常用）
PAM4/NRZ characterization -
SerDes / High-speed I/O：高速背板、模組、光電轉換測試
SerDes/high-speed I/O debug and characterization
自動化測試與遠端控制（Automation / Remote Control）
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支援自動化測試流程整合（R&D / QA / Manufacturing）
Automation-ready platform for lab and production environments -
可整合自動化測試系統與報告輸出（依軟體/配置）
Supports automated measurement and reporting workflows
儀器介紹
- Modular wide-bandwidth oscilloscope mainframe for high-speed electrical / optical waveform analysis
- Supports Electrical & Optical Eye Diagram measurements (NRZ / PAM4, depends on plug-in modules)
- Comprehensive Jitter Analysis and Mask Test for compliance and validation
- Plug-in architecture supports multiple modules: 86105D / 86106D / 86107A / 86108B and optical modules
- Ideal for high-speed serial links / SerDes validation and debugging
- Enables testing for data center interconnects and transceiver modules (QSFP / OSFP / SFP)
- Supports clock / timing / jitter characterization and waveform analysis
- High repeatability sampling measurement for signal integrity validation
- Automation-ready for R&D, QA and manufacturing test environments (remote control, depending on configuration)
- Common applications: 400G/200G/100G Ethernet, PAM4 optical/electrical compliance testing
- Supports PAM4 / NRZ eye diagram measurements for high-speed standards (depends on modules)
- Designed for transceiver / optical module characterization and validation