主要規格與效能（Core Specifications）

高解析度量測架構（High-Resolution Measurement Architecture）

• 採用 14-bit ADC（Analog-to-Digital Converter），提供同級示波器中極高的垂直解析度
• 垂直解析度為一般 8-bit 示波器的 4 倍
• 低雜訊前端設計，Noise Floor 低至 50–55 μVrms
• 在較低頻寬設定下，量測解析度可達 16 bits（High-Resolution Mode）
• 有效提升小訊號、雜訊與電源波動的可視性

頻寬與通道配置（Bandwidth & Channel Configuration）

• 標準頻寬：200 MHz
• 支援 4 或 2 Analog Channels（依機型）
• 可選配 16 Digital Channels（MSO 功能，邏輯探棒另購）
• 支援頻寬升級（Software Upgrade）

頻寬升級對照（Bandwidth Upgrade Options）：
• HD304MSO
　– 200 MHz → 350 MHz（HD3BW/007）
　– 200 MHz → 500 MHz（HD3BW/008）
　– 200 MHz → 1 GHz（HD3BW/009）

• HD302MSO
　– 350 MHz → 500 MHz（HD3BW/010）
　– 350 MHz → 1 GHz（HD3BW/011）
　– 500 MHz → 1 GHz（HD3BW/012）

取樣效能與記憶體（Sampling & Memory Performance）

• Maximum Sample Rate：3.2 GSa/s（All Channels）
• Memory Depth：20 Mpts
• Deep Memory 支援長時間波形擷取，於全取樣率下捕捉更長時間跨度
• Waveform Update Rate：>1,000,000 wfms/s
• 可快速捕捉低發生率 Glitch 與瞬態異常

進階量測與分析功能（Advanced Measurement & Analysis）

• Fast Fourier Transforms（FFT）
• Waveform & Measurement Histograms
• Bode Plot（Frequency Response Analysis）
• Zone Triggering（以畫框方式快速隔離訊號）
• Fault Hunter 軟體，可自動搜尋、標記與儲存異常事件
• 高效能 Mask Test 與 Measurement Limit Test（硬體支援）

序列匯流排與 MSO 功能（Serial Bus & MSO Capabilities）

• 支援序列匯流排觸發與解碼：
　I2C、SPI、UART / RS-232 / RS-485
• 支援 Segmented Memory（FastFrame 類型應用）
• MSO 模式可同步顯示 Analog + Digital 訊號（邏輯探棒選配）
• 可同時顯示最多 4 組獨立波形，並可分別調整垂直比例

標準內建功能（Standard Features on All Models）

• Frequency Response Analysis（Bode Plot）
• Fault Hunter Software
• 強化型觸發、解碼與序列分析功能
• Segmented Memory
• Built-in Function / Arbitrary Waveform Generator
• FFT、Histogram 等進階分析工具

型號重點（Model Highlights）

• HD304MSO：4 Analog Channels / 200 MHz（可升級至 1 GHz）
• HD302MSO：2 Analog Channels / 200 MHz（可升級至 1 GHz）

典型應用（Applications）

• AI 伺服器 / 資料中心控制與電源訊號量測
　適用於 Power Enable、Reset、Clock、GPIO 與電源雜訊分析

• 嵌入式系統與 MCU / FPGA 除錯
　SPI、I²C、UART、CAN 類數位通訊與控制訊號同步量測

• 5G / 6G 通訊設備內部數位控制與時序驗證（非 RF 調變）
　適合 Small Cell、通訊模組、邊緣運算設備

• Wi-Fi 6 / Wi-Fi 6E / Wi-Fi 7 晶片與模組測試
　用於控制訊號、數位 I/O 與時序行為分析

• 電源完整性（PI）與 PDN Noise 量測
　DC-DC Converter、VRM Ripple / Transient 分析

• 研發實驗室 / QA / 產線 EOL / ATE 測試環境