產品介紹
Tektronix DPO7354C Digital Phosphor Oscilloscope 支援型號：DPO7354C 我們提供完整服務：
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Tektronix DPO7354C 為 Tektronix 高階 Digital Phosphor Oscilloscope（數位螢光示波器），具備 高頻寬 Real-Time 取樣架構 與 DPO 螢光顯示技術，可即時呈現訊號密度與瞬態異常，特別適合用於高速數位訊號、時序抖動與訊號完整性分析。
DPO7000C 系列廣泛應用於高階研發實驗室，可有效加速高速系統設計、除錯與驗證流程。適用於 高速數位訊號、Timing / Jitter 分析、Eye Diagram 觀測，以及 SI / PI（Signal Integrity / Power Integrity） 與高速介面除錯。常見應用包含：
✓ AI 伺服器 / 資料中心主機板高速訊號除錯（Clock / Reset / Control / SerDes）
✓ 高速 SerDes、Backplane、Cable 與高速 I/O 介面驗證
✓ 5G / 6G 通訊設備之高速數位與時脈訊號分析（非 RF 調變）
✓ Wi-Fi 6 / Wi-Fi 6E / Wi-Fi 7 晶片與模組高速 I/O 訊號觀測
✓ 高速時脈品質、Timing Margin、Jitter 分析
✓ 電源完整性 PI、PDN Noise、Transient 波形量測
✓ 研發實驗室 / QA / 產線 EOL / ATE 測試環境
· 儀器功能檢測與完整測試
· 現貨 / 客訂支援（依頻寬、通道、應用需求）
多型號示波器整體諮詢（Tektronix DPO / MSO / TDS / Keysight Infiniium 等）
高價回收示波器與量測設備
FAE 工程師協助量測架構與高速探棒選型建議（差動 / 高頻 / 高速探棒）
歡迎來電洽詢，提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您快速完成高速量測與驗證需求。
規格
主要規格與效能（Core Specifications）
產品定位與適用場景（Product Positioning）
- DPO7354C 屬於 Real-Time Digital Phosphor Oscilloscope（即時數位螢光示波器）
- 專為高速數位訊號、SerDes、Clock、訊號完整性（SI）與電源完整性（PI）分析設計
- 適用於 AI 伺服器、資料中心、高速運算平台與通訊設備之硬體除錯與驗證
- 適合研發實驗室、QA 與產線 EOL / ATE 測試環境
頻寬與取樣效能（Bandwidth & Sampling Performance）
- 提供 3.5 GHz / 2.5 GHz / 1 GHz / 500 MHz 頻寬機型
- Real-time Sampling Rate：
- 使用者可選擇頻寬限制濾波器，提升低頻與雜訊環境下的量測準確度
波形擷取與記錄效能（Acquisition & Record Length）
- 採用 DPO / DPX® Acquisition Technology，可即時顯示訊號密度與瞬態異常
- Maximum Waveform Capture Rate（FastAcq™）：>250,000 wfms/s
- FastFrame™ Segmented Memory 模式：>310,000 wfms/s
- Record Length（MultiView Zoom™）：Up to 500 Mpoints
- 可快速捕捉低發生率 Glitch、Intermittent Fault 與瞬態事件
觸發能力與事件定位（Triggering & Event Detection）
- Pinpoint® Triggering Technology，提供超過 1,400 種觸發組合
- Visual Trigger，精準控制觸發條件，快速定位複雜波形片段
- Advanced Search & Mark，可於長時間記錄中搜尋與標記事件
- Powerful Triggering Features，適用於高速系統除錯與異常偵測
序列匯流排觸發與分析（Serial Bus Trigger & Analysis）
- 支援序列匯流排自動觸發、解碼與搜尋：
I2C、SPI、CAN、LIN、FlexRay、RS-232 / 422 / 485 / UART、MIL-STD-1553、USB 2.0
- 進階序列分析（依選配）：
MIPI® D-PHY DSI-1 / CSI-2、8b/10b、PCI Express
- 可針對 64-bit NRZ Serial Clock 進行觸發（Up to 1.25 Gbps），用於定位 Pattern-dependent effects
進階分析與量測應用（Advanced Measurement & Analysis）
- 支援 Power Supply / PI / PDN Noise / Transient 量測
- 支援 DDR Memory Bus 與 Wideband RF Analysis（非 RF 調變）
- 支援 Limit 與 Mask Testing，提供合規與品質檢查能力
操作介面與系統整合（User Interface & System Integration）
- MyScope® Custom Control Windows，可依使用情境自訂操作畫面
- Right-Mouse-Click Menus，加速量測與設定流程
- 12.1 吋 XGA 觸控式顯示螢幕
- TekVPI® 探棒介面，支援主動式、差動與電流探棒自動辨識
- 作業系統：64-bit Microsoft Windows 7 OS
- USB Host（前面板與側邊）、10/100/1000 Base-T Ethernet
- 支援外部顯示輸出，符合 LXI Class C，適合自動化測試系統整合
原廠英文說明
Ease of use
Pinpoint® technology provides maximum starting flexibility and efficiency, with over 1,400 combinations to choose from to suit virtually any starting condition The visual trigger function allows you to control triggering with great precision and makes it easier to find specific fragments in complex waveforms The Advanced Search and Mark feature makes it easy to find specific events on a waveform.
Customizable windows with MyScope® controls and context menus ensure maximum efficiency 53 types of automatic measurements, auxiliary histograms and FFT facilitate waveform analysis The TekVPI® probe interface supports automatic scaling and units for active, differential, and current probes
Vibrant 12.1-inch (307 mm) XGA touchscreen display