產品介紹
產品定位：Anritsu MP1632A 屬於訊號產生與 RF 測試源設備，可用於RF 訊號源、接收機測試、通訊模組驗證、頻率響應測試與系統整合。
選型重點：實際輸出範圍、調變能力與相位雜訊表現需依選配與校正狀態確認。評估 MP1632A 時，建議同步確認頻率範圍、輸出功率、相位雜訊、調變功能、選配、附件與校正狀態。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Anritsu，產品分類為 射頻微波儀器。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
主要規格與功能
量測
Frequency Range） 頻率範圍 ：50 MHz ～ 3.2 GHz 解析度 ：1
測試圖樣（Test Pattern / Pattern Generator） PRBS Pattern ：2ⁿ−1（n＝7, 9, 11, 15, 20, 23, 31） Consecutive 0s Pattern ：2ⁿ（n＝7, 9, 11, 15） Programmable Pattern（可程式圖樣） ：2 ～ 8,388,608
Pattern Depth / 資料長度（Pattern Length / Depth） Data Length ：2 ～ 8,388,608 bits 支援長深度序列，可用於傳輸品質、眼圖
Margin 測試與誤碼分析 Burst 功能（Burst
Measurement） Burst Measurement ：支援 Burst 訊號產生與量測 適用於 Optical Loop Test 等環路測試場景 可進行 Burst Signal 的產生與誤碼監測 介面電平（Interface Level） Variable Level （可調電平） ECL / PECL TTL / LVTTL 支援多種邏輯介面，對應不同高速通訊/數位系統驗證需求
誤碼率量測範圍（BER Definition / Eye Margin）
Error rate definition range（Eye Margin 測試） ： 1 × 10⁻ⁿ（n：3 ～ 9）
遠端控制與通訊（External Control / Interface）
進階功能（Advanced Features）
Digital Data Analysis / Data Analyzer（數位資料分析功能） 支援高速通訊介面 BER Test，適用研發驗證、製造測試與系統評估
原廠英文說明
The Anritsu MP1632A integrates a pulse pattern generation unit (transmitter) and an error detection unit (receiver) in a single unit, halving size and weight compared to conventional BERTS and cutting the price. And when far-end measurement is needed, the MP1632A can be configured as two units for transmitting and receiving. The graphical user interface (GUI) features a large LCD and the Windows OS. As an example of the systems user-friendly operation, test patterns of 1s and 0s can be input like drawing actual waveform transition. Moreover, screen customizing permits one key/one parameter operation, a feature of conventional BERTS. Thus, the MP1632A has inherited the popular operability of Anritsu's conventional BERTS. The results display provides eye diagram measurement, which is useful for evaluating the quality of the input waveform. An additional merit not provided by conventional BERTS is burst-signal measurement, which supports optical loop tests for development of long-distance optical transmission circuits