產品介紹
Tektronix DSA8200 Digital Serial Analyzer Sampling Oscilloscope
（高速取樣示波器／數位串列分析平台）
全新／二手儀器買賣｜租賃｜出售｜回收收購｜維修保養｜校驗校正
Tektronix DSA8200 為 Tektronix 經典高階 Sampling Oscilloscope / Digital Serial Analyzer（數位串列取樣示波分析平台），採模組化架構設計，可搭配多款高速取樣模組進行電性與光學訊號量測，提供 Eye Diagram、Jitter Analysis、Mask Test 等核心功能，廣泛應用於高速序列通訊、SerDes 介面驗證與高速鏈路品質分析。
DSA8200 特別適合用於超高速資料率下之低抖動眼圖量測與規範符合性測試，常見於研發、實驗室與產線驗證環境。常見應用場域，適用於：
✓ AI 伺服器 / GPU Cluster 高速序列鏈路驗證
（SerDes、Clock/Data Recovery、Tx/Rx 眼圖與抖動分析）
✓ Data Center / AI 機櫃高速互連測試
（高速背板、線纜、電性互連 Eye Diagram / Mask Test）
✓ 高速數位序列介面驗證
（PCIe、SAS、SATA、Ethernet 等，依模組與軟體配置）
✓ 高速時脈與抖動量測
（Clock Jitter / Timing Margin 分析）
✓ 研發實驗室、QA、產線 EOL / ATE 測試環境
・高速取樣示波器與 DSA 系統功能檢測與驗證
・現貨／客訂可（依主機、取樣模組、軟體選項供貨）
・多型號高速取樣示波與序列分析設備諮詢
（Tektronix DSA / Sampling Oscilloscope / Serial Analyzer 系列）
・高價回收高速量測與通訊分析設備
・FAE 工程師協助量測架構與測試項目建議
（Eye Diagram / Jitter / Mask Test / AI 伺服器高速鏈路） 歡迎來電洽詢，提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您快速完成 AI 伺服器與 Data Center 高速數位序列鏈路之量測與驗證需求。
規格
Tektronix DSA8200 Digital Serial Analyzer 為高階 Sampling Oscilloscope / Digital Serial Analyzer（高速取樣示波與數位串列分析平台），採模組化架構設計，可搭配多款電性與光學取樣模組，支援 Eye Diagram、Jitter / Noise / BER 分析、Mask Test、TDR / TDT 與 S-parameter 量測，適用於高速序列通訊、SerDes、AI 伺服器與資料中心高速互連之研發、驗證與產線測試應用。
模組化架構（Modular Acquisition Platform）
主機搭配 Plug-in Acquisition Modules 模組化架構
Modular mainframe with plug-in acquisition modules
支援整合式多速率光學取樣模組
光學取樣模組最高可達 80 GHz（80C10B）（依模組）
電性取樣模組最高可達 70+ GHz 頻寬，10–90% 上升時間低至 5 ps Electrical modules up to 70+ GHz bandwidth, 5 ps rise time
部分模組支援 ER 校正之高精度量測
支援 Flexible Rate Clock Recovery 與 SSC（Spread Spectrum Clocking） Flexible rate clock recovery with SSC support 眼圖與序列鏈路分析（Eye Diagram & Serial Data Analysis）
支援 Electrical / Optical Eye Diagram 量測（依模組） Electrical & optical eye diagram measurements 可區分 Deterministic Jitter（DJ）與 Random Jitter（RJ）
Separation of deterministic and random jitter components
可量測垂直雜訊並分離資料相關雜訊與隨機雜訊
Vertical noise characterization and noise separation 高精度 BER 與 Eye Contour Estimation，支援 DDPWS
具備業界頂級 Time-base Jitter Performance
Typical performance達 800 fs RMS
Ideal for clock quality & jitter troubleshooting
TDR / TDT 量測（Time Domain Reflectometry）
反射上升時間 15 ps，入射上升時間 12 ps 具備低雜訊特性，50 GHz 下 600 µVrms 獨立 Sampler Deskew，方便治具與探棒去嵌
Enables advanced differential channel characterization
S 參數量測（S-parameter Measurements）
支援 最高 50 GHz 差動、單端與混合模式 S-parameter 量測
（Insertion Loss、Return Loss、Crosstalk、Mode Conversion） 適用於 PCI Express、SATA、InfiniBand、Gigabit Ethernet
支援快速、多埠、自動化 S-parameter 量測（CLI 介面）
進階量測與系統特性（Advanced Measurement Features）
高速擷取率與高系統吞吐量
Remote Sampler 架構，可將取樣器放置於 DUT 附近以提升訊號真實度 FrameScan™ 擷取模式，支援眼圖平均、資料相關錯誤隔離
支援第三方軟體整合與自動化測試環境
AI 相關應用（AI / Data Center Applications）
原廠英文說明
State-of-the-Art Sampling Oscilloscope for Communication Signal Analysis, TDR / TDT / Serial Data Network Analysis, Acquisition, and Measurements of Repetitive Ultrafast Signals
Acquisition of Spread Spectrum Clocking (SSC) Signals
Industry’s Only Mainframe to Support up to 8 Input Channels for Increased Flexibility and Throughput Four Color-graded, Variable Persistence Waveform Databases Measurement System with Over 100 Automated Measurements
Complete Suite of Communications Measurements includes Both Types of OMA, SSC Profile, and Many Others
Automated ITU/ANSI/IEEE Mask Testing
Masks and Measurements for SONET/SDH, FC, Ethernet, and Other Standards Built-in Mask Updates can be Loaded from Factory-supplied File Mask Margin Testing for Guard Banding Production Testing