產品介紹
產品定位：Tektronix DSA8200 Digital Serial Analyzer 屬於向量網路分析與射頻微波元件量測設備，可用於S 參數、回波損耗、增益／損耗、濾波器、放大器、天線、線纜與 RF 模組驗證。
選型重點：實際量測範圍、精度與可用功能需依機身選配、附件與校正狀態確認。評估 DSA8200 時，建議同步確認頻率範圍、埠數、動態範圍、校正件、測試治具、Bias Tee、衰減器與選配功能。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Tektronix，產品分類為 射頻微波儀器。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
Tektronix DSA8200 Digital Serial Analyzer 為高階 Sampling Oscilloscope / Digital Serial Analyzer（高速取樣示波與數位串列分析平台），採模組化架構設計，可搭配多款電性與光學取樣模組，支援 Eye Diagram、Jitter / Noise / BER 分析、Mask Test、TDR / TDT 與 S-parameter 量測，適用於高速序列通訊、SerDes、AI 伺服器與資料中心高速互連之研發、驗證與產線測試應用。
模組化架構（Modular Acquisition Platform）
主機搭配 Plug-in Acquisition Modules 模組化架構
Modular mainframe with plug-in acquisition modules
支援整合式多速率光學取樣模組
光學取樣模組最高可達 80 GHz（80C10B）（依模組）
電性取樣模組最高可達 70+ GHz 頻寬，10–90% 上升時間低至 5 ps Electrical modules up to 70+ GHz bandwidth, 5 ps rise time
部分模組支援 ER 校正之高精度量測
支援 Flexible Rate Clock Recovery 與 SSC（Spread Spectrum Clocking） Flexible rate clock recovery with SSC support 眼圖與序列鏈路分析（Eye Diagram & Serial Data Analysis）
支援 Electrical / Optical Eye Diagram 量測（依模組） Electrical & optical eye diagram measurements 可區分 Deterministic Jitter（DJ）與 Random Jitter（RJ）
Separation of deterministic and random jitter components
可量測垂直雜訊並分離資料相關雜訊與隨機雜訊
Vertical noise characterization and noise separation 高精度 BER 與 Eye Contour Estimation，支援 DDPWS
具備業界頂級 Time-base Jitter Performance
Typical performance達 800 fs RMS
Ideal for clock quality & jitter troubleshooting
TDR / TDT 量測（Time Domain Reflectometry）
反射上升時間 15 ps，入射上升時間 12 ps 具備低雜訊特性，50 GHz 下 600 µVrms 獨立 Sampler Deskew，方便治具與探棒去嵌
Enables advanced differential channel characterization
S 參數量測（S-parameter Measurements）
支援 最高 50 GHz 差動、單端與混合模式 S-parameter 量測
（Insertion Loss、Return Loss、Crosstalk、Mode Conversion） 適用於 PCI Express、SATA、InfiniBand、Gigabit Ethernet
支援快速、多埠、自動化 S-parameter 量測（CLI 介面）
進階量測與系統特性（Advanced Measurement Features）
高速擷取率與高系統吞吐量
Remote Sampler 架構，可將取樣器放置於 DUT 附近以提升訊號真實度 FrameScan™ 擷取模式，支援眼圖平均、資料相關錯誤隔離
支援第三方軟體整合與自動化測試環境
AI 相關應用（AI / Data Center Applications）
原廠英文說明
State-of-the-Art Sampling Oscilloscope for Communication Signal Analysis, TDR / TDT / Serial Data Network Analysis, Acquisition, and Measurements of Repetitive Ultrafast Signals
Acquisition of Spread Spectrum Clocking (SSC) Signals
Industry’s Only Mainframe to Support up to 8 Input Channels for Increased Flexibility and Throughput Four Color-graded, Variable Persistence Waveform Databases Measurement System with Over 100 Automated Measurements
Complete Suite of Communications Measurements includes Both Types of OMA, SSC Profile, and Many Others
Automated ITU/ANSI/IEEE Mask Testing
Masks and Measurements for SONET/SDH, FC, Ethernet, and Other Standards Built-in Mask Updates can be Loaded from Factory-supplied File Mask Margin Testing for Guard Banding Production Testing