產品介紹
產品定位與應用Agilent 4156C 半導體參數分析儀
Semiconductor Parameter Analyzer
I-V 特性量測
SMU/VSU 屬於射頻／微波訊號產生設備，適合用於接收機測試、本振替代、通訊模擬、元件驗證、產線校驗與系統整合等情境。
實際量測範圍與選配需依機身配置、附件與校正狀態確認。
選型時建議同步確認輸出頻率、輸出功率、相位雜訊、調變能力、掃頻模式、參考時脈與介面，避免後續因選配、治具或校正條件不符而影響測試進度。
弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理詢價所需資訊。
規格
Agilent / HP 4156C Semiconductor Parameter Analyzer（半導體參數分析儀） 為半導體元件 I-V 特性量測、可靠度測試與製程參數萃取的主力設備，適用於 MOSFET / TFT / Diode / BJT / Power Device 等元件分析，支援 超低電流漏電量測、脈衝量測、On-wafer reliability 等進階功能。
內建通道與量測架構
超高解析度量測能力
量測解析度：1 fA / 0.2 µV Measurement resolution: 1 fA and 0.2 µV
可進行 超低漏電（ultra-low leakage） 元件特性量測
Measures leakage characteristics with ultra-low leakage SMUs
Kelvin / Guard 設計（低漏電量測）
Full Kelvin 架構：每個 HRSMU 具備 Force / Sense / Guard terminals Full Kelvin: force, sense, and guard terminals for each HRSMU → 有效降低漏電與雜訊，提升低電流/高阻抗元件量測準確度
支援 Quasi-Static Capacitance vs Voltage（QSCV） Performs quasi-static capacitance measurements versus voltage measurements
Automatically extracts process parameters without manually manipulating screen markers → 減少人工拉 marker 誤差，提高量測效率
脈衝量測與自動化特性分析
Automates device characterization with integrated pulse generators and selector switches → 可進行脈衝 I-V 量測、降低 self-heating 影響（功率元件/高速元件常用）
On-wafer reliability tests with built-in stressing modes 支援 Stress Mode / Stand-by function（可靠度試驗常用）
量測操作與資料分析
Point-and-click GUI 圖形化介面操作
Point-and-click measurements with graphical user interface
Provides graphical data analysis capabilities with a Windows environment 內建功能：QSCV / Stress Mode / Knob-sweep / Stand-by
Triggering modes 支援同步 AC/DC 量測
Triggering modes allow synchronized AC/DC measurements
IBASIC user functions 可自動化量測、資料繪圖分析
IBASIC user functions allow data to be plotted and analyzed
原廠英文說明
Highly accurate parameter analyzer for advanced device characterization 4x High-resolution SMU, 2xVSU and 2xVMUFill-in-the blanks front panel operation1 femtoamp and 0.2 microvolt measurement resolution QSCV, Stress Mode, Knob-sweep, Stand-by function The Keysight 4156C Precision Semiconductor Parameter Analyzer is a highly accurate laboratory bench top solution for advanced device characterization. The 41501B Expander extends your capabilities to 1A/200V, and add a low noise ground unit and dual pulse generators on the 4156C.Agilent 4156C parameter analyzerHP 4156C semiconductor parameter analyzer4156C HRSMU / VSU / VMU1fA SMU ultra low leakageKelvin / Guard terminal SMUQSCV quasi static C-VOn wafer reliability stress modeMOSFET Id-Vg / Id-Vd measurementTFT transfer curve / output curveDiode leakage / breakdown IVPulse IV measurementDevice characterization systemWafer prober parameter analyzer