產品介紹
產品定位與應用Keysight / Agilent / HP PD1561368119089 Keysight / Agilent / HP 81642A Tunable Laser Source 可調式雷射光源
Tunable Laser Source
AI 伺服器高速光互連測試 屬於頻譜與訊號分析設備，適合用於載波、雜訊、諧波、雜散、調變品質、通訊訊號與 EMI 預掃測試等情境。
實際量測範圍與選配需依機身配置、附件與校正狀態確認。
選型時建議同步確認頻率範圍、分析頻寬、相位雜訊、DANL、前置放大器、追蹤產生器與量測應用軟體，避免後續因選配、治具或校正條件不符而影響測試進度。
弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理詢價所需資訊。
規格
Specifications（Key Performance Specifications）
| Wavelength range | 1510 nm to 1640 nm |
|---|---|
| Max. output power | +7 dBm |
| Wavelength accuracy（abs.） | ±0.015 nm |
| Wavelength repeatability（typ.） | ±0.5 pm |
Key Features / Benefits
適合 DWDM 元件量測與系統鏈路驗證，亦可用於光放大器/被動元件測試平台
波長精度 ±0.015 nm、重複性 ±0.5 pm，適合高精度掃頻量測與頻譜特性分析
Optimized for swept-wavelength measurement
可用於插入損耗（IL）、回波損耗（RL）與頻譜響應測試，提高量測一致性與可追溯性
Typical Applications（Applications）
DWDM / CWDM passive components test（Filter / AWG / Coupler 等頻譜響應、Insertion Loss）
Swept-wavelength test（掃頻量測、頻譜特性與通道中心波長驗證）
400G / 800G Data Center & AI Server Interconnect Validation（資料中心與 AI 伺服器機櫃高速光互連鏈路測試） R&D / QA / EOL / ATE production testing（研發與產線自動化測試整合）
原廠英文說明
It is optimized for testing optical amplifiers at high stimulus power, and passive components. This Keysight Agilent HP "A" Tunable Laser Source has been replaced by Agilent 81642B but can be upgraded. It has continuous sweep through full wavelength range, high power optical output for optical amplifier test, built-in real-time wavelength meter, mode-hop free tuning over full wavelength range, and both optical outputs are equipped with Panda type polarization maintaining fiber.