Keysight / Agilent / HP 81642A Tunable Laser Source 可調式雷射光源｜Tunable Laser Source｜AI 伺服器高速光互連測試
Keysight / Agilent / HP 81642A Tunable Laser Source 可調式雷射光源｜Tunable Laser Source｜AI 伺服器高速光互連測試 屬於函數／任意波形產生器與模擬訊號測試源，可用於電路刺激、感測器模擬、頻率響應、教育研發、維修測試與自動化測試系統。弘燁科技可協助確認庫存、附件、校正、交期與替代型號。
產品介紹
產品定位：Keysight / Agilent / HP 81642A Tunable Laser Source 可調式雷射光源｜Tunable Laser Source｜AI 伺服器高速光互連測試 屬於函數／任意波形產生器與模擬訊號測試源，可用於電路刺激、感測器模擬、頻率響應、教育研發、維修測試與自動化測試系統。
選型重點：實際輸出能力、波形模式與調變功能需依機身選配與附件確認。評估 81642A 時，建議同步確認頻率範圍、通道數、取樣率、輸出振幅、調變功能、記憶體深度、介面與校正狀態。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Keysight / Agilent / HP，產品分類為 訊號源與波形產生。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
Specifications（Key Performance Specifications）
| Wavelength range | 1510 nm to 1640 nm |
|---|---|
| Max. output power | +7 dBm |
| Wavelength accuracy（abs.） | ±0.015 nm |
| Wavelength repeatability（typ.） | ±0.5 pm |
Key Features / Benefits
適合 DWDM 元件量測與系統鏈路驗證，亦可用於光放大器/被動元件測試平台
波長精度 ±0.015 nm、重複性 ±0.5 pm，適合高精度掃頻量測與頻譜特性分析
Optimized for swept-wavelength measurement
可用於插入損耗（IL）、回波損耗（RL）與頻譜響應測試，提高量測一致性與可追溯性
Typical Applications（Applications）
DWDM / CWDM passive components test（Filter / AWG / Coupler 等頻譜響應、Insertion Loss）
Swept-wavelength test（掃頻量測、頻譜特性與通道中心波長驗證）
400G / 800G Data Center & AI Server Interconnect Validation（資料中心與 AI 伺服器機櫃高速光互連鏈路測試） R&D / QA / EOL / ATE production testing（研發與產線自動化測試整合）
原廠英文說明
It is optimized for testing optical amplifiers at high stimulus power, and passive components. This Keysight Agilent HP "A" Tunable Laser Source has been replaced by Agilent 81642B but can be upgraded. It has continuous sweep through full wavelength range, high power optical output for optical amplifier test, built-in real-time wavelength meter, mode-hop free tuning over full wavelength range, and both optical outputs are equipped with Panda type polarization maintaining fiber.