產品介紹
產品定位：Keysight 86120C Multi-Wavelength Meter 多波長光學波長計 屬於頻譜分析與射頻訊號量測設備，可用於RF 訊號分析、雜訊量測、通訊測試、EMI 預掃描、研發除錯與產線檢測。
選型重點：實際頻率範圍、動態範圍與分析功能需依機身選配與校正狀態確認。評估 86120C 時，建議同步確認頻率範圍、RBW/VBW、前置放大器、追蹤產生器、相位雜訊、選配與校正狀態。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Keysight / Agilent / HP，產品分類為 射頻微波儀器。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
主要規格與效能（Core Specifications）
| ・FSQ3 | 20 Hz 至 3.6 GHz |
|---|---|
| ・FSQ8 | 20 Hz 至 8 GHz |
| ・FSQ26 | 20 Hz 至 26.5 GHz |
| ・FSQ40 | 20 Hz 至 40 GHz |
・標準訊號分析頻寬：28 MHz
RF 效能指標（Outstanding RF Performance）
・ACLR（3GPP，含雜訊校正）：–84 dB ・ACLR（3GPP 多載波，四個相鄰載波）：–77 dB ・三階交調截點（TOI）：
> +20 dBm（typ. +25 dBm） ・1 dB 壓縮點：+13 dBm
雜訊效能與靈敏度
・顯示平均雜訊準位（DANL，1 Hz BW）： –173 dBm（typ.，搭配雜訊校正與 R&S®FSU-B24 前置放大器）
10 MHz Offset：–160 dBc/Hz 10 kHz Offset：–133 dBc/Hz
・適合低雜訊、高動態範圍之向量訊號量測
向量訊號與系統分析能力
・支援向量訊號分析與高精度調變品質量測
・可整合類比與數位基頻分析流程
・適合研發、系統驗證與高階 ATE 測試應用
原廠英文說明
Characterize WDM spectra during installation and maintenance Simultaneously measure up to 200 wavelengths and powers Automated signal-to noise ratio measurements Calculate center wavelength of "broadband" sources such as Bragg-grating-filtered ASE or LEDs Characterize Fabry-Perot lasers using the built-in automated measurement routine ±3 pm wavelength accuracy and 10 GHz wavelength resolution Rugged enough for use in the field and accurate enough for use in the labThe Keysight 86120C Multi-Wavelength Meter is a Michelson interferometer-based instrument that measures wavelength and optical power of laser light in the 1270 to 1650 nm wavelength range.Simultaneous measurements of multiple laser lines are performed allowing measurements of DWDM signals and multiple lines of Fabry-Perot lasers. 【弘燁科技-專業儀器設備】- Keysight 86120C Multi-Wavelength Meter 光波長計 /維修儀器/校驗儀器