產品介紹
產品定位與應用Keysight / Agilent / HP PD1530169785294 Agilent 4155B / 4156B Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀 半導體元件特性分析
Device Characterization System 屬於射頻／微波訊號產生設備，適合用於接收機測試、本振替代、通訊模擬、元件驗證、產線校驗與系統整合等情境。
實際量測範圍與選配需依機身配置、附件與校正狀態確認。
選型時建議同步確認輸出頻率、輸出功率、相位雜訊、調變能力、掃頻模式、參考時脈與介面，避免後續因選配、治具或校正條件不符而影響測試進度。
弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理詢價所需資訊。
規格
主要規格與效能（ Core Specifications ）
量測範圍與精度（ Measurement Range & Accuracy ）
．High-resolution / High-accuracy Wide Dynamic Range 設計 ．Current Range：1 fA to 1 A（20 fA offset accuracy） ．Voltage Range：1 µV to 200 V
．適用於 Ultra-low Leakage 與 High-power Device 分析 ．支援 GaN / SiC / Power MOSFET 等第三代半導體元件 I-V 掃描與脈衝功能（ I-V Sweep & Pulse Capability ）
．Fully-automated I-V Sweep Measurements ．支援 DC Mode / Pulse Mode 量測 ．Synchronized Stress / Measure Function
．Two High-Voltage Pulse Generator Units（±40 V） ．適用於 AI Server Power IC / GPU PMIC 測試 ．支援 5G / 6G / LTE / WiFi 6 / WiFi 7 / NB-IoT 通訊晶片開發
．Expandable up to 6 SMUs ．多通道同步量測架構 ．適用於 Wafer Level 多端元件測試
．支援 IC Design Verification / Process Development
時間域量測（ Time-Domain Measurement ）
．60 µs – Variable Intervals ．Up to 10,001 Points ．適用於 Reliability Stress Test（BTI / TDDB）
．長時間元件可靠度分析應用
操作與分析功能（ Operation & Analysis ）
．Knob-sweep 操作方式（類似 Curve Tracer） ．Automatic Analysis Functions ．即時 I-V Curve 圖形顯示
自動化整合能力（ Automation Capability ）
．Built-in HP Instrument BASIC ．Trigger I/O Capabilities ．可整合 Automated Test Equipment（ATE）
．適用於 QA / EOL / R&D 量測環境
原廠英文說明
The Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer offers four built-in source/monitor units (SMUs), two voltage source units (VSUs), and two voltage monitor units (VMUs). The HP 4155B is best suited for basic semiconductor applications with its non-kelvin connections, 10 V resolution, and 100 mA/100 Ohm measurement range. Agilent 4155B 4156B Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀