HP 4145A / 4145B Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀 半導體元件特性分析系統｜Semiconductor Parameter Analyzer
HP 4145A / 4145B Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀 半導體元件特性分析系統｜Semiconductor Parameter Analyzer 屬於源量測單元（SMU）與精密 I-V 測試設備，可用於半導體元件、感測器、材料、太陽能電池、二極體、LED 與研發／品保 I-V 特性驗證。弘燁科技可協助確認庫存、附件、校正、交期與替代型號。
產品介紹
產品定位：HP 4145A / 4145B Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀 半導體元件特性分析系統｜Semiconductor Parameter Analyzer 屬於源量測單元（SMU）與精密 I-V 測試設備，可用於半導體元件、感測器、材料、太陽能電池、二極體、LED 與研發／品保 I-V 特性驗證。
選型重點：實際輸出與量測範圍會依機身型號、韌體、附件與校正狀態而不同。評估 HP 4145A / 4145B 時，建議同步確認電壓／電流範圍、量測解析度、通道數、四線式量測、介面、附件、校正狀態與保護條件。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Keysight / Agilent / HP，產品分類為 半導體與元件 I-V 量測。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
主要規格與效能（ Core Specifications ）
產品定位（ Product Overview ）
．HP 4145B Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀 ．專為 semiconductor devices 與材料之 complete DC characterization 設計 ．可對電壓與電流敏感元件進行刺激與響應量測
．支援 I-V 特性分析與製程驗證應用 ．內建 3.5 inch micro flexible disc drive 提供資料儲存功能
量測能力（ Measurement Capability ）
．Fully automatic, high-speed DC characterization ．High resolution, wide range sourcing and measurement ．最大 1150 measurement and display points
．適用於精準元件特性量測與分析
圖形分析功能（ Graphic Analysis Functions ）
．Flexible graphic analysis functions ．快速進行 parameter extraction ．支援 I-V curve 圖形顯示與數據比較
．提升研發與製程開發效率
．Built-in micro flexible disc drive ．支援測試資料儲存與記錄 ．適用於長期研發與製程追蹤管理
應用領域（ Applications ）
．MOSFET / BJT / Diode / IGBT 元件 DC 特性量測 ．GaN / SiC 功率元件分析 ．晶圓級（Wafer Level）I-V Characterization
．AI 伺服器電源管理 IC 開發驗證 ．5G / 6G / LTE / WiFi 6 / WiFi 7 / NB-IoT 通訊晶片測試 ．研發驗證 / QA / 失效分析環境
原廠英文說明
The Agilent / HP 4145B Semiconductor Parameter Analyzer is capable of complete dc characterization of semiconductor devices and materials. It stimulates voltage and current sensitive devices, measures the resulting current and voltage response, and displays the results in a user-selectable format.3.5 inch floppy is built in for storage capability. HP/Agilent 4145B 4145A Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀