儀器規格（Instrument Specifications）

系統架構（System Architecture）

• 高速光功率計模組（Fast Power Meter Module）

  • 安裝於 Agilent / Keysight 816x 光通訊量測主機（Mainframe）

    • 8163A/B、8164A/B、8166A/B

  • 適用於高速光功率量測、功率波動監測與產線測試

• 量測能力（Measurement Capability）

  • Data acquisition time：25 µs（高速資料擷取）

  • Power range：+10 dBm to -80 dBm

  • Data storage：100,000 data points（內建資料記錄）

量測性能（Measurement Performance）

• 高速取樣（Fast Acquisition）

  • 25 µs 擷取時間，適合快速變動訊號量測與功率波動監控

• 低頻譜波紋（Low Spectral Ripple）

  • 降低頻譜干涉造成的不確定度，提高量測重複性與準確度

• 低偏振相關誤差（Low PDL）

  • Low PDL：±0.005 dB（部分條件/規格對應 81637B）

內建應用功能（Built-in Applications）

• Logging（資料記錄/追溯）

  • 內建 100,000 points 量測資料儲存能力

  • 適用長時間功率穩定性監測與老化測試（Aging Test）

• Stability（穩定度/漂移監測）

  • 光源/模組功率漂移（Power Drift）長時間追蹤

• Production Test（產線測試）

  • 快速取樣＋大量記錄，適合 QA/EOL 測試與良率分析

觸發與同步（Triggering & Synchronization）

• 依 816x Mainframe 系統提供觸發/同步架構

• 支援多模組測試同步量測，適用自動化與系統級測試架構

控制與介面（Control & Interfaces）

• 由 816x 主機提供遠端控制與通訊介面，例如：

  • LAN（Remote Control）

  • GPIB（依主機配置）

• 支援自動化測試設備（ATE）系統整合與量測程式導入

應用領域（Applications）

• AI 伺服器 / 資料中心高速光互連

  • 400G/800G 光模組功率穩定性、功率波動監測、量測數據追溯

• 光收發模組（Transceiver）測試

  • Tx Power / Power Stability / Burn-in & Aging Test

• 主動元件/光源功率監測

  • 雷射/光放大器輸出功率長時間監測（Drift / Stability）

• 研發 / QA / EOL / ATE

  • 高速量測、量測記錄、產線測試一致性與良率分析