規格
主要規格與效能（Core Specifications）
產品定位（Product Positioning）
・適用於 研發實驗室 與 製造產線高速量測
・內建比較器、負載與 BIN（分類）量測功能
・可將 Head Amp Unit 與主機分離，降低測試線材對高頻量測的影響
量測參數（Measurement Items）
・阻抗與等效參數：
・相位與損耗參數：
量測頻率（Measurement Frequency）
・頻率範圍：100 kHz 至 120 MHz ・頻率步進解析度：100 Hz 至 100 kHz steps
量測範圍（Measurement Ranges）
| ・Z / R | 100 mΩ 至 2 kΩ |
|---|---|
| ・C | 0.66 pF 至 15.9 µF |
| ・L | 0.133 nH 至 3.18 mH |
| ・Z / R | 1 kΩ 至 20 kΩ |
|---|---|
| ・C | 0.066 pF 至 1.59 nF |
| ・L | 1.33 µH 至 31.8 mH |
| ・Z / R | 10 kΩ 至 300 kΩ |
|---|---|
| ・C | 4.4 fF 至 159 pF |
| ・L | 13.3 µH 至 477 mH |
| ・相位角 θ | –180.00° 至 +180.00° |
・|Z|：±0.5 % rdg. ・相位角精度：±0.3°
測試訊號（Measurement Signal Level）
・電壓測試訊號：
– 5 mV 至 500 mV（≥ 10.01 MHz） – 解析度：1 mV steps ・電流測試訊號：
– 200 µA 至 10 mA（≥ 10.01 MHz） – 解析度：10 µA steps
輸出與量測速度（Output & Speed）
・輸出阻抗：50 Ω ±10 Ω（at 100 kHz） ・量測時間：6 ± 1 ms（nominal）
介面與系統（Interfaces & Power）
・通訊介面：GP-IB、RS-232C、EXT I/O（標準） ・電源需求：100 至 240 VAC，50/60 Hz，50 VA
應用領域（Application Highlights）
・高頻被動元件量測（RF Inductor / Capacitor）
・比較器與 BIN 分類量測應用
・電源與系統應用（高頻層級）
– 電源模組高頻電感與濾波元件驗證
– AI 伺服器 / HPC 電源系統高頻被動元件分析
原廠英文說明
The Hioki 3535 LCR HiTESTER measures across the broad frequency range of 100kHz to 120MHz. The 6ms high-speed measurement capability is particularly useful with the built in comparator, load functions and BIN (classification) measurements. Achieve measurement flexibility by detaching the head amp unit fromt he main unit and placking it in proximity to the test object so as to minimize the effect of test leads on measurements.