產品介紹
產品定位：Agilent 4291A / 4291B Impedance / Material Analyzer 阻抗與材料分析儀 屬於源量測單元（SMU）與精密 I-V 測試設備，可用於半導體元件、感測器、材料、太陽能電池、二極體、LED 與研發／品保 I-V 特性驗證。
選型重點：實際輸出與量測範圍會依機身型號、韌體、附件與校正狀態而不同。評估 4291A / 4291B 時，建議同步確認電壓／電流範圍、量測解析度、通道數、四線式量測、介面、附件、校正狀態與保護條件。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Keysight / Agilent / HP，產品分類為 半導體與元件 I-V 量測。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
主要規格與效能（Core Specifications）
產品定位（Product Overview）
・由 Agilent Technologies 推出的高頻 Impedance / Material Analyzer 阻抗與材料分析儀
・專為 SMD 被動元件、介電材料與磁性材料高精度量測設計
・採用 Direct I-V Measurement Technique（直流電壓電流法），優於反射式量測技術，提供更寬阻抗範圍與更高準確度
・適合研發、材料分析與量產測試應用
・Basic Accuracy：0.8%
・1 MHz to 1.8 GHz ・Frequency Resolution：1 mHz
網路與相位量測功能（Gain-Phase Measurement）
阻抗量測參數（Impedance Measurement Parameters）
・|Z|, |Y|
・R, X ・G, B ・Lp, Ls
・Cp, Cs ・D, Q ・Deviation, Deviation %
・DC Bias：±35 V
進階材料分析功能（Material Measurement & Analysis）
・Direct Read-out of Permittivity & Permeability（介電常數與磁導率直接讀取，選配） ・Versatile Analysis：
掃描參數設定（Sweep Parameters）
・Frequency Sweep（頻率掃描）
・AC Level Sweep（訊號振幅掃描）
・DC Bias Sweep（偏壓掃描）
・Temperature Sweep（溫度掃描）
介面控制（Interfaces）
選購功能（Options）
・Option 002 – 100 Hz / 200 Hz Resolution Synthesizer
系統整合與特性（System Integration & Features）
・高精度寬頻阻抗與材料同步量測平台
・適合研發、QA 與產線 EOL／ATE 測試架構
典型應用（Typical Applications）
・AI 伺服器高速電源模組與 PDN 阻抗分析
・5G / 6G 射頻通訊模組與高頻材料測試
原廠英文說明
The HP/Agilent 4291B RF impedance/material analyzer provides a total solution for high-accuracy and easy measurement of surface-mount components and dielectric/magnetic materials. The HP/Agilent 4291B uses a direct current-voltage measurement technique, opposing the reflection measurement technique, for more accurate impedance measurement over wide impedance range.