Tektronix TDS8000B / TDS8200B 為 Tektronix 經典高階 Sampling Oscilloscope（取樣示波器），專為超高速訊號之低抖動、高穩定度眼圖與時序分析設計，採模組化架構，可依需求搭配電性、光學與 TDR 取樣模組，廣泛應用於 高速數位通訊、半導體測試、訊號完整性（SI）分析，以及 AI 伺服器／資料中心高速互連 驗證場景。

核心規格與系統特性（Key Features）

• 頻寬能力
  支援 DC 至 70+ GHz 頻寬（依取樣模組配置）

• 時基與抖動效能
  具備極低 Trigger Jitter 與優異的 Horizontal Timebase Stability，適合高精度眼圖與時序量測

• 模組化架構
  採用 Modular Architecture，可依應用需求配置取樣、TDR、光學等模組

• 通道擴充能力
  最多支援 8 通道取樣量測（依主機與模組配置）

• 量測精度與重複性
  提供高解析度量測與優異的量測重複性，適合長時間與關鍵量測應用

• 自動化量測系統
  內建完整、準確之自動量測功能，提升研發與驗證效率

• 操作介面

  • 10.4 吋大型顯示螢幕

  • Windows-based 圖形化操作介面，操作直覺、易於整合

應用場域（Applications）

• 半導體元件與高速 IC 測試

• 高速數位資料通訊與序列介面分析

• 使用 TDR 進行阻抗、不連續點與 Crosstalk 特性分析

• AI 伺服器 / GPU Cluster 高速主機板與互連驗證

• Data Center 背板、線纜與高速通道量測

探棒與配件（Probes & Accessories，常見搭配）

• P6150：9 GHz 被動探棒

• P8018：20 GHz 單端 TDR 探棒（建議搭配 80A02 模組）

• P80318：18 GHz、100 Ω 差動阻抗 TDR 手持探棒

• P7513 / P7516：13 / 16 GHz TriMode™ 差動探棒（需 80A03）

• P7260 / P7350：6 / 5 GHz Active FET 探棒（需 80A03）

• P7350SMA / P7380SMA：差動轉單端主動探棒（取樣量測建議使用 P7380）

（實際支援依主機與介面模組配置）

取樣與量測模組（Modules，依配置）

• 80A01：Trigger Amplifier

• 80A02：ESD / EOS Protection Module

• 82A04：Phase Reference Module（低抖動量測）

• 80A05：Electrical Clock Recovery Module

• 80A06：PatternSync Module（Jitter 分析）

• 80E04：Dual-channel Electrical Sampling Module

• 80E08 / 80E10：Remote Sampling Module（含 True Differential TDR）

• 80C07B / 80C08C / 80C10B：Optical Sampling Modules（最高可達 80 GHz）

• 80C12：Broad Wavelength Optical Sampling Module（700–1650 nm，多速率）

系統定位總結

TDS8000B / TDS8200B 特別適合用於 高資料率、低抖動需求 的量測場景，相較即時示波器，在眼圖、抖動與高速序列訊號分析上具備明顯優勢，廣泛部署於研發實驗室、QA 與產線驗證環境。