產品介紹
產品定位：Tektronix TDS8000B / TDS8200B 屬於示波器、混合訊號與時域波形分析設備，可用於波形量測、時序分析、電源完整性、數位訊號除錯、嵌入式系統驗證與維修測試。
選型重點：實際可用頻寬、取樣率與分析功能需依機身配置、探棒與選配確認。評估 TDS8000B 時，建議同步確認頻寬、通道數、取樣率、記憶體深度、探棒附件、觸發／解碼功能與校正狀態。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Tektronix，產品分類為 時域／波形量測儀器。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
Tektronix TDS8000B / TDS8200B 為 Tektronix 經典高階 Sampling Oscilloscope（取樣示波器），專為超高速訊號之低抖動、高穩定度眼圖與時序分析設計，採模組化架構，可依需求搭配電性、光學與 TDR 取樣模組，廣泛應用於 高速數位通訊、半導體測試、訊號完整性（SI）分析，以及 AI 伺服器／資料中心高速互連 驗證場景。
核心規格與系統特性（Key Features）
支援 DC 至 70+ GHz 頻寬（依取樣模組配置）
時基與抖動效能
具備極低 Trigger Jitter 與優異的 Horizontal Timebase Stability，適合高精度眼圖與時序量測
模組化架構
採用 Modular Architecture，可依應用需求配置取樣、TDR、光學等模組
最多支援 8 通道取樣量測（依主機與模組配置）
量測精度與重複性
提供高解析度量測與優異的量測重複性，適合長時間與關鍵量測應用
自動化量測系統
內建完整、準確之自動量測功能，提升研發與驗證效率
操作介面
10.4 吋大型顯示螢幕 Windows-based 圖形化操作介面，操作直覺、易於整合
應用場域（Applications）
高速數位資料通訊與序列介面分析
Data Center 背板、線纜與高速通道量測
探棒與配件（Probes & Accessories，常見搭配）
| 型號 / 選配 | 說明 |
|---|---|
| P6150 | 9 GHz 被動探棒 |
| P8018 | 20 GHz 單端 TDR 探棒（建議搭配 80A02 模組） |
| P80318 | 18 GHz、100 Ω 差動阻抗 TDR 手持探棒 |
| P7513 / P7516 | 13 / 16 GHz TriMode™ 差動探棒（需 80A03） |
|---|---|
| P7260 / P7350 | 6 / 5 GHz Active FET 探棒（需 80A03） |
| P7350SMA / P7380SMA | 差動轉單端主動探棒（取樣量測建議使用 P7380） |
（實際支援依主機與介面模組配置）
取樣與量測模組（Modules，依配置）
| 型號 / 選配 | 說明 |
|---|---|
| 80A01 | Trigger Amplifier |
| 80A02 | ESD / EOS Protection Module |
| 82A04 | Phase Reference Module（低抖動量測） |
| 80A05 | Electrical Clock Recovery Module |
| 80A06 | PatternSync Module（Jitter 分析） |
| 80E04 | Dual-channel Electrical Sampling Module |
| 80E08 / 80E10 | Remote Sampling Module（含 True Differential TDR） |
|---|---|
| 80C07B / 80C08C / 80C10B | Optical Sampling Modules（最高可達 80 GHz） |
| 80C12 | Broad Wavelength Optical Sampling Module（700–1650 nm，多速率） |
系統定位總結
TDS8000B / TDS8200B 特別適合用於 高資料率、低抖動需求 的量測場景，相較即時示波器，在眼圖、抖動與高速序列訊號分析上具備明顯優勢，廣泛部署於研發實驗室、QA 與產線驗證環境。
原廠英文說明
TDS8000B Digital Sampling Oscilloscope
Features & Benefits
DC to 70+ GHz Bandwidth*1
Exceptional Trigger Jitter and Horizontal Timebase Stability
Modular Architecture
Up to Eight Channels Acquisition
High Resolution and Measurement Repeatability
Comprehensive, Accurate, Automatic Measurement System
Intuitive User Interface
Large Display (10.4 in.)
Microsoft Windows-based Graphical User Interface
Windows 2000 for enhanced network security
Applications
Semiconductor Testing
Impedance and Crosstalk Characterization (using TDR)
High-speed Digital Data Communications