產品介紹
Tektronix TDS8000B / TDS8200B Sampling Oscilloscope 取樣示波器 支援型號：
TDS8000B Sampling Oscilloscope
TDS8200B Sampling Oscilloscope
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Tektronix TDS8000B / TDS8200B 為 Tektronix 經典高階 Sampling Oscilloscope（取樣示波器），專為超高速訊號之低抖動、低雜訊眼圖與時序分析設計，可搭配多款高速取樣與光電模組，進行 Eye Diagram、Jitter Analysis、Mask Test 等量測，廣泛應用於高速數位序列介面、光通訊與系統層驗證環境。
相較即時示波器，TDS8000B / TDS8200B 特別適合用於高資料率下之精準眼圖與抖動量測，常見於研發、實驗室與產線驗證。常見應用場域，適用於：
✓ AI 伺服器 / GPU Cluster 高速序列鏈路驗證
（SerDes、Clock / Data、Tx/Rx 眼圖與抖動分析）
✓ Data Center / AI 機櫃高速互連測試
（高速背板、線纜、電性互連 Eye Diagram / Mask Test）
✓ 高速數位序列介面與光電訊號分析
（NRZ / PAM4，依模組與配置）
✓ 高速時脈與抖動量測
（Clock Jitter / Timing Margin）
✓ 研發實驗室、QA、產線 EOL / ATE 測試環境
・取樣示波器系統功能檢測與量測驗證
・現貨／客訂可（依主機、取樣模組、量測需求供貨）
・多型號高速取樣示波與序列分析設備諮詢
（Tektronix TDS / DSA / Sampling Oscilloscope 系列）
・高價回收高速量測與通訊分析設備
・FAE 工程師協助量測架構與測試項目建議
（Eye Diagram / Jitter / Mask Test / AI 伺服器高速鏈路） 歡迎來電洽詢，提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您快速完成 AI 伺服器與 Data Center 高速序列訊號之量測與驗證需求。
規格
Tektronix TDS8000B / TDS8200B 為 Tektronix 經典高階 Sampling Oscilloscope（取樣示波器），專為超高速訊號之低抖動、高穩定度眼圖與時序分析設計，採模組化架構，可依需求搭配電性、光學與 TDR 取樣模組，廣泛應用於 高速數位通訊、半導體測試、訊號完整性（SI）分析，以及 AI 伺服器／資料中心高速互連 驗證場景。
核心規格與系統特性（Key Features）
支援 DC 至 70+ GHz 頻寬（依取樣模組配置）
時基與抖動效能
具備極低 Trigger Jitter 與優異的 Horizontal Timebase Stability，適合高精度眼圖與時序量測
模組化架構
採用 Modular Architecture，可依應用需求配置取樣、TDR、光學等模組
最多支援 8 通道取樣量測（依主機與模組配置）
量測精度與重複性
提供高解析度量測與優異的量測重複性，適合長時間與關鍵量測應用
自動化量測系統
內建完整、準確之自動量測功能，提升研發與驗證效率
操作介面
10.4 吋大型顯示螢幕 Windows-based 圖形化操作介面，操作直覺、易於整合
應用場域（Applications）
高速數位資料通訊與序列介面分析
Data Center 背板、線纜與高速通道量測
探棒與配件（Probes & Accessories，常見搭配）
| 型號 / 選配 | 說明 |
|---|---|
| P6150 | 9 GHz 被動探棒 |
| P8018 | 20 GHz 單端 TDR 探棒（建議搭配 80A02 模組） |
| P80318 | 18 GHz、100 Ω 差動阻抗 TDR 手持探棒 |
| P7513 / P7516 | 13 / 16 GHz TriMode™ 差動探棒（需 80A03） |
|---|---|
| P7260 / P7350 | 6 / 5 GHz Active FET 探棒（需 80A03） |
| P7350SMA / P7380SMA | 差動轉單端主動探棒（取樣量測建議使用 P7380） |
（實際支援依主機與介面模組配置）
取樣與量測模組（Modules，依配置）
| 型號 / 選配 | 說明 |
|---|---|
| 80A01 | Trigger Amplifier |
| 80A02 | ESD / EOS Protection Module |
| 82A04 | Phase Reference Module（低抖動量測） |
| 80A05 | Electrical Clock Recovery Module |
| 80A06 | PatternSync Module（Jitter 分析） |
| 80E04 | Dual-channel Electrical Sampling Module |
| 80E08 / 80E10 | Remote Sampling Module（含 True Differential TDR） |
|---|---|
| 80C07B / 80C08C / 80C10B | Optical Sampling Modules（最高可達 80 GHz） |
| 80C12 | Broad Wavelength Optical Sampling Module（700–1650 nm，多速率） |
系統定位總結
TDS8000B / TDS8200B 特別適合用於 高資料率、低抖動需求 的量測場景，相較即時示波器，在眼圖、抖動與高速序列訊號分析上具備明顯優勢，廣泛部署於研發實驗室、QA 與產線驗證環境。
原廠英文說明
TDS8000B Digital Sampling Oscilloscope
Features & Benefits
DC to 70+ GHz Bandwidth*1
Exceptional Trigger Jitter and Horizontal Timebase Stability
Modular Architecture
Up to Eight Channels Acquisition
High Resolution and Measurement Repeatability
Comprehensive, Accurate, Automatic Measurement System
Intuitive User Interface
Large Display (10.4 in.)
Microsoft Windows-based Graphical User Interface
Windows 2000 for enhanced network security
Applications
Semiconductor Testing
Impedance and Crosstalk Characterization (using TDR)
High-speed Digital Data Communications