產品介紹
產品定位：Tektronix 11801C Digital Sampling Oscilloscope 屬於示波器、混合訊號與時域波形分析設備，可用於波形量測、時序分析、電源完整性、數位訊號除錯、嵌入式系統驗證與維修測試。
選型重點：實際可用頻寬、取樣率與分析功能需依機身配置、探棒與選配確認。評估 11801C 時，建議同步確認頻寬、通道數、取樣率、記憶體深度、探棒附件、觸發／解碼功能與校正狀態。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Tektronix，產品分類為 時域／波形量測儀器。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
Tektronix 11801C Digital Sampling Oscilloscope 為高階 數位取樣示波器主機（Sampling Oscilloscope Mainframe），採模組化架構設計，具備超高速取樣能力、極低抖動與高量測重複性，適合用於高速數位與光通訊訊號之眼圖、抖動、TDR 與時序分析，廣泛應用於半導體、高速通訊與系統層驗證環境。
核心量測規格（Key Measurement Performance）
取樣間隔低至 10 fs（0.01 ps）
可透過 SM-11 多通道擴充系統，最高擴充至 136 通道
量測穩定度
提供高解析度與優異的量測重複性，適合長時間與關鍵量測應用
架構與系統特性（Architecture & System Features）
模組化架構（Modular Architecture）
可依應用需求搭配電性、光學與 TDR 取樣模組
雙時基系統（Dual Timebase）
支援多視窗顯示，便於同時觀察不同時間尺度訊號
顯示與介面
彩色顯示螢幕，支援 Color Grading，有效呈現訊號分布密度
全自動 Jitter 與 Noise 量測
自動 Pulse 量測並提供統計結果
TDR 與差動量測（TDR & Differential Measurements）
自動化與系統整合（Automation & ATE）
適合 ATE 自動化測試系統 與產線整合應用
系統定位總結
11801C 特別適合用於 高資料率、低抖動、高通道數 的量測場景，在眼圖、抖動、TDR 與多通道同步量測方面具備明顯優勢，常見於研發實驗室、QA 與系統級驗證環境。
原廠英文說明
The 11801C Digital Sampling Oscilloscope offers a wide range of on-board measurement and waveform processing capabilitiese. With excellent measurement repeatability, exceptional vertical resolution and fast display update rate, the 11801C is a powerful measurement tool for semiconductor testing, TDR characterization of circuit boards, IC packages and cables, and high speed digital data communications. The modular microprocessor-based architecture of the 11801C not only allows you to select the right configuration for your application, but also allows expandability to meet your future measurement needs. The 11801C accepts up to 4 dual-channel sampling heads and can be expanded through the SM-11 Multi-Channel Units to 136 channels. There are nine sampling heads to choose from: 【弘燁科技-專業儀器設備】-Tektronix 11801C Digital Sampling Oscilloscope 取樣示波器 /收購/回收/維修儀器/校驗/校正儀器。