產品介紹
TDS3012B ｜ TDS3014B ｜ TDS3032B ｜ TDS3054B
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Tektronix TDS3000B Series 為經典 Digital Phosphor Oscilloscope（DPO） 系列，採用即時顯示技術，可有效呈現訊號強度與發生機率，特別適合捕捉瞬態、毛刺與低發生率異常事件，長期廣泛應用於電子研發與實驗室量測環境。
TDS3012B、TDS3014B、TDS3032B 與 TDS3054B 具備穩定的取樣效能與多通道架構，適合進行 控制訊號、電源波形與高速數位訊號 的時域分析與除錯，亦常用於 AI 伺服器周邊控制板、通訊設備與嵌入式系統 的基礎至中階驗證需求，在可靠度與操作直覺性方面表現成熟。
常見應用包含：
✓ AI 伺服器周邊控制、時序與電源訊號觀測
✓ 高速數位訊號與基礎時域分析
✓ 5G / LTE / Wi-Fi 6 / Wi-Fi 7 通訊模組基礎測試
✓ NB-IoT、嵌入式系統、MCU / FPGA 訊號除錯
✓ 電源模組、DC-DC 轉換器波形量測
✓ 研發實驗室 / 教學實驗室 / QA / 產線 EOL 測試
・現貨／客訂均可（依頻寬、通道配置供貨）
・多型號示波器諮詢（Tektronix TDS / DPO / MSO、Keysight、LeCroy、R&S 等）
・高價回收儀器
・FAE 工程師協助量測規劃與應用建議
歡迎來電諮詢，提供 現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您快速導入穩定可靠的 Tektronix TDS3000B 系列數位螢光示波器量測解決方案。
規格
主要規格與效能（Core Specifications）
- Tektronix TDS3000B Series Digital Phosphor Oscilloscope
- TDS3012B ｜ TDS3014B ｜ TDS3032B ｜ TDS3034B ｜ TDS3052B ｜ TDS3054B
| • TDS3012B / TDS3014B | 100 MHz |
|---|---|
| • TDS3032B / TDS3034B | 300 MHz |
| • TDS3052B / TDS3054B | 500 MHz |
| • Analog Channels | 2 或 4 Channels（依型號） |
取樣效能（Sampling Performance）
| • TDS3012B / TDS3014B | 1.25 GS/s |
|---|---|
| • TDS3032B / TDS3034B | 2.5 GS/s |
| • TDS3052B / TDS3054B | 5 GS/s |
- Record Length：10 Kpoints（All Models）
- 顯示訊號發生頻率與振幅分布，利於異常定位
模組與擴充（Application Modules）
產品特色（Key Features）
- 輕量化設計，支援電池供電（依配置）
- 適合現場量測與實驗室使用
產品定位（Instrument Class）
典型應用（Applications）
ModelAnalog BandwidthSample RateRecord LengthAnalog Channels
1.25 GS/s
1.25 GS/s
2.5 GS/s
2.5 GS/s
原廠英文說明
The Tektronix TDS3000 Series Digital Phosphor Oscilloscope packs the power of digital phosphor waveform acquisition technology, automatic anomaly detection, web-based remote control, and seven application-specific modules into a lightweight, battery-capable design. Digital phosphor oscilloscopes display, store and analyze in real-time three dimensions of signal information: amplitude, time, and distribution of amplitude over time. Fast waveform capture and update rates make it easier to capture and display infrequent waveforms or waveform variations.The intensity graded color display provides information about the frequency of occurrence of signal amplitudes and widths. This helps you locate and characterize waveform anomalies that can be elusive on traditional digital storage oscilloscopes.