Tektronix TDS3000B Series Digital Phosphor Oscilloscope 數位螢光示波器 TDS3012B｜TDS3014B｜TDS3032B｜TDS3054B
Tektronix TDS3000B Series Digital Phosphor Oscilloscope 數位螢光示波器 TDS3012B ｜ TDS3014B ｜ TDS3032B ｜ TDS3054B 屬於示波器、混合訊號與時域波形分析設備，可用於波形量測、時序分析、電源完整性、數位訊號除錯、嵌入式系統驗證與維修測試。弘燁科技可協助確認庫存、附件、校正、交期與替代型號。
產品介紹
產品定位：Tektronix TDS3000B Series Digital Phosphor Oscilloscope 數位螢光示波器 TDS3012B ｜ TDS3014B ｜ TDS3032B ｜ TDS3054B 屬於示波器、混合訊號與時域波形分析設備，可用於波形量測、時序分析、電源完整性、數位訊號除錯、嵌入式系統驗證與維修測試。
選型重點：實際可用頻寬、取樣率與分析功能需依機身配置、探棒與選配確認。評估 TDS3000B 時，建議同步確認頻寬、通道數、取樣率、記憶體深度、探棒附件、觸發／解碼功能與校正狀態。
採購與技術確認：弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期，協助比對同級替代型號並整理可交付方案。
品牌與分類：品牌為 Tektronix，產品分類為 時域／波形量測儀器。如需確認完整規格、附件、校正與交期，建議提供實際量測條件由 SMART 協助確認。
規格
主要規格與效能（Core Specifications）
- Tektronix TDS3000B Series Digital Phosphor Oscilloscope
- TDS3012B ｜ TDS3014B ｜ TDS3032B ｜ TDS3034B ｜ TDS3052B ｜ TDS3054B
| • TDS3012B / TDS3014B | 100 MHz |
|---|---|
| • TDS3032B / TDS3034B | 300 MHz |
| • TDS3052B / TDS3054B | 500 MHz |
| • Analog Channels | 2 或 4 Channels（依型號） |
取樣效能（Sampling Performance）
| • TDS3012B / TDS3014B | 1.25 GS/s |
|---|---|
| • TDS3032B / TDS3034B | 2.5 GS/s |
| • TDS3052B / TDS3054B | 5 GS/s |
- Record Length：10 Kpoints（All Models）
- 顯示訊號發生頻率與振幅分布，利於異常定位
模組與擴充（Application Modules）
產品特色（Key Features）
- 輕量化設計，支援電池供電（依配置）
- 適合現場量測與實驗室使用
產品定位（Instrument Class）
典型應用（Applications）
ModelAnalog BandwidthSample RateRecord LengthAnalog Channels
1.25 GS/s
1.25 GS/s
2.5 GS/s
2.5 GS/s
原廠英文說明
The Tektronix TDS3000 Series Digital Phosphor Oscilloscope packs the power of digital phosphor waveform acquisition technology, automatic anomaly detection, web-based remote control, and seven application-specific modules into a lightweight, battery-capable design. Digital phosphor oscilloscopes display, store and analyze in real-time three dimensions of signal information: amplitude, time, and distribution of amplitude over time. Fast waveform capture and update rates make it easier to capture and display infrequent waveforms or waveform variations.The intensity graded color display provides information about the frequency of occurrence of signal amplitudes and widths. This helps you locate and characterize waveform anomalies that can be elusive on traditional digital storage oscilloscopes.