產品介紹
Anritsu 37247C / 37347C / 37269C / 37369C Vector Network Analyzer
支援型號:
產品定位與應用價值
37247C|37347C|37269C|37369C
我們提供
- 全新/二手儀器買賣|租賃|出售|回收收購|維修保養|校驗校正 Anritsu 37247C / 37347C / 37269C / 37369C 為 Anritsu 經典高效能
- 37xxxC 系列具備穩定的量測準確度與成熟的量測架構, 可進行頻率響應、插入損耗、回波損耗、相位與阻抗分析, 適合研發驗證、系統整合與產線測試應用。
- 儀器功能檢測與校驗
- 現貨/客訂可(依預算、頻段與通道需求供貨)
- 多型號比較諮詢(Anritsu / Keysight / Agilent / R&S)
- 高價回收儀器
- FAE 工程師協助量測應用與校正建議(校正方式/治具/線材選型)
歡迎來電諮詢,提供 現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排,協助您最快完成量測部署。
規格
主要規格與功能
主要規格與效能(Core Specifications) 系列定位與量測能力
- 37000B / 37000C Series 為高效能 Vector Network Analyzer
- 適用於主動與被動元件之 S-parameter 精密量測
- 頻率範圍涵蓋 22.5 MHz ~ 65 GHz
- 整合 Synthesized Source、S-parameter Test Set 與 Tuned Receiver
- Compact 桌上型設計,適合實驗室與產線使用 量測架構與硬體特性
- Fast Sweeping Synthesized Source
- Auto Reversing Test Set
- Solid-State Transfer Switch
- Four-Channel Receiver 架構
- Four Independent Displays,同時顯示多組量測結果 校正與量測精度
- 支援 LRL / LRM 校正方式
- 支援 Adapter Removal Calibration
- 進階向量誤差修正,提升量測準確度 系統與
- 自動化
內建硬碟與磁碟機(Hard / Floppy Disk Drives)
- 透過 GPIB 介面實現高速量測吞吐與自動化控制
- 適合 ATE 與系統整合應用 型號與
頻率範圍(Model & Frequency)
- 被動元件測試(Passive Component
- Applications)
- 37247C:40 MHz ~ 20 GHz
- 37269C:40 MHz ~ 40 GHz
- 37297C:40 MHz ~ 67 GHz 主動/被動元件測試(Active & Passive
- Applications)
- 37347C:40 MHz ~ 20 GHz
- 37369C:40 MHz ~ 40 GHz
- 37397C:40 MHz ~ 67 GHz
- 適用應用場景
- RF / Microwave 被動與主動元件量測
- 高頻放大器、濾波器與模組驗證
- 高速線纜、連接器與背板頻率特性分析
AI 伺服器 / HPC 高速互連(Cable / Connector / Backplane)
Signal Integrity(SI)與高頻通道分析
- 研發實驗室 / QA / 產線 EOL / ATE 測試
儀器介紹
The 37000B/C Vector Network Analyzers are high performance tools designed to make fast and accurate Sparameter measurements of active and passive devices across the 22.5 MHz to 65 GHz range. These network analyzers integrate a synthesized source, S-parameter test set and tuned receiver into a single compact package that is ideal for bench-top testing.
Fast Sweeping Synthesized Source
Auto Reversing Test Set
Solid-State Transfer Switch
Four Independent Displays
Four Channel Receiver
Internal Hard and Floppy Disk Drives
LRL/LRM Calibration
Adapter Removal Calibrations
Fast Measurement Throughput via GPIB