是德/安捷倫(Keysight/Agilent/HP)

Agilent / HP 8712ES / 8712ET / 8714ES / 8714ET 向量網路分析儀 Vector Network Analyzer

產品定位與應用Keysight / Agilent / HP S21 Agilent / HP 8712ES / 8712ET / 8714ES…

品牌:是德/安捷倫(Keysight/Agilent/HP) 型號:/ HP 8712ES / 8712ET / 8714ES / 8714ET 向量網路分析儀 Vector Network Analyzer 料號:PD1527823366157
【弘燁科技】 Agilent / HP 8712ES / 8712ET / 8714ES / 8714ET 向量網路分析儀 Vector Network Analyzer
品牌
是德/安捷倫(Keysight/Agilent/HP)
型號
/ HP 8712ES / 8712ET / 8714ES / 8714ET 向量網路分析儀 Vector Network Analyzer
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產品介紹

產品定位與應用Keysight / Agilent / HP S21 Agilent / HP 8712ES / 8712ET / 8714ES / 8714ET 向量網路分析儀 Vector Network Analyzer 屬於向量網路分析與射頻微波元件量測設備,適合用於S 參數、回波損耗、增益/損耗、VSWR、相位、群延遲、濾波器、放大器、天線、線纜與 RF 模組驗證等情境。

實際量測範圍與選配需依機身配置、附件與校正狀態確認。

選型時建議同步確認頻率範圍、埠數、動態範圍、校正件、測試治具、Bias Tee、衰減器與其他選配功能,避免後續因選配、治具或校正條件不符而影響測試進度。

弘燁科技可依目前庫存、附件組合、校正需求與交期,協助比對同級替代型號並整理詢價所需資訊。

規格

主要規格與效能(Core Specifications)

ES / ET 架構與量測功能

・8712ES / 8714ES:  內建 S-Parameter Test Set,支援完整雙埠向量誤差修正

 可同時量測 S21(Transmission)與 S11(Reflection)

 支援 Delay、SWR 等多種顯示格式(Rectangular / Polar / Smith Chart) ・8712ET / 8714ET:

 內建 Transmission / Reflection Test Set

 支援幅度與相位量測,可顯示 Transmission 與 Reflection Response  支援 Complex Impedance、SWR、Delay 等格式(Rectangular / Polar / Smith Chart)  採用進階向量誤差修正技術,提升量測準確度

頻率範圍

・8712ES / 8712ET:300 kHz ~ 1.3 GHz ・8714ES / 8714ET:300 kHz ~ 3.0 GHz

訊號源與量測核心

・Internal Synthesized Source

・Frequency Resolution:1 Hz ・雙獨立量測通道,可同時顯示兩組量測參數

適用應用場景

・RF / Microwave 被動元件量測

・通訊模組與射頻前端測試

・高速線纜與端口反射特性分析

・AI 伺服器 / HPC 高速互連(Port Reflection / Return Loss)

・Signal Integrity(SI)基本反射與阻抗量測

・研發實驗室 / QA / 教學與產線測試
原廠英文說明

The 8712/14ES features an S-parameter test set with full two-port vector-error correction, providing complete and accurate measurements of device S-parameters. Two independent channels can measure and display two parameters such as S21 (transmission) and S11 (reflection) in a variety of formats including delay and SWR, on retangular, polar or Smith-chart displays. The 8712/14ET features a built-in transmission/reflection test set with a full range of magnitude and phase measurements.Two independent channels can measure and display two device parameters, such as transmission and reflection response, in a variety of formats including complex impedance, SWR, and delay, on rectangular, polar or Smith-chart displays. These analyzers also employ advanced vector-error-correction techniques to enhance measurement accuracy.

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