產品介紹
【弘燁科技・專業示波器／量測儀器服務】
Tektronix MSO70404C Digital and Mixed Signal Oscilloscopes
支援型號：MSO70404C
我們提供完整服務：
全新／二手儀器買賣｜租賃｜出售｜回收收購｜維修保養｜校驗校正
Tektronix MSO70404C 為 Tektronix 高階 Digital Oscilloscope（數位示波器） 與 Mixed Signal Oscilloscope（混合訊號示波器） 平台，具備超高速取樣能力與高頻寬架構，可精準捕捉高速數位訊號邊緣、抖動、瞬態事件與低機率錯誤波形，特別適用於先進高速系統驗證與訊號完整性分析應用。
MSO 架構整合多組數位時序通道，可同步觀測類比與數位訊號行為，廣泛應用於高階研發與系統除錯環境。
適用於高速數位訊號、Timing / Jitter、Eye Diagram 量測，以及 SI / PI（Signal Integrity / Power Integrity）與多通道系統除錯。
常見應用包含：
✓ AI 伺服器／資料中心高速背板與互連分析（Clock / Timing / Jitter）
✓ 高速 SerDes、PCIe、DDR 記憶體與高速匯流排驗證
✓ 5G / 6G 通訊設備內部高速數位與時脈訊號分析（非 RF 調變）
✓ LTE 通訊設備數位介面與控制訊號測試
✓ Wi-Fi 6 / Wi-Fi 6E / Wi-Fi 7 晶片與模組高速訊號量測
✓ NB-IoT 與嵌入式通訊系統時序除錯
✓ 電源完整性 PI、PDN Noise、Ripple、Transient 量測
✓ FPGA / MCU / ASIC 高速系統開發與同步除錯
✓ 研發實驗室 / QA / 產線 EOL / ATE 測試環境
我們提供：
· 儀器功能檢測與完整測試
· 現貨／客訂支援（依頻寬、通道與應用需求）
· 多型號示波器整體諮詢（Tektronix DPO / MSO／Keysight Infiniium 等）
· 高價回收示波器與量測設備
· FAE 工程師協助量測架構與探棒選型建議（差動／高頻／電流探棒）
歡迎來電洽詢，提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您快速完成高速量測與系統驗證需求。
規格
主要規格與效能（ Core Specifications ）
系列定位與量測能力（ System Performance & Measurement Capability ）
• 由 Tektronix 推出之高階 Digital & Mixed Signal Oscilloscope 平台
• 提供優異訊號完整性與高信噪比，真實還原高速波形細節
• 支援 Pinpoint® Triggering 精準擷取複雜問題訊號
• Visual Trigger 可視化條件設定，快速鎖定異常事件
• Search & Mark 波形與匯流排事件自動搜尋功能
• 支援多種高速序列通訊自動觸發與解碼分析
頻寬與通道配置（ Bandwidth & Channel Configuration ）
• Analog Channels（類比通道）：4 Channels
• Digital Channels（MSO models）：16 Channels
• Analog Bandwidth（-3 dB）：4 GHz（Hardware & DSP selectable）
• 適用高速數位、SerDes、DDR 與先進通訊系統驗證
取樣效能（ Sampling Performance ）
• Sample Rate（1–2 Channels）：25 GS/s（Max up to 50 GS/s）
• Sample Rate（3–4 Channels）：25 GS/s
• Sample Rate（ET/IT Mode）：5 TS/s
• Timing Resolution：40 ps（25 GS/s）
• ET/IT Mode Resolution：200 fs
記憶體深度（ Memory Depth ）
• Standard Record Length：31.25 Mpts / Channel
• MSO70000 Series Standard：62.5 Mpts / Channel
• Optional 5XL：62.5 Mpts / Channel
• Optional 10XL：125 Mpts / Channel
高速長時間擷取能力（ Capture Duration at Max Sample Rate ）
• Standard：1.25 ms（DPO） / 2.5 ms（MSO）
• Optional 5XL：2.5 ms
• Optional 10XL：5.0 ms
垂直雜訊與抖動效能（ Noise & Jitter Performance ）
• Vertical Noise：0.28% of full scale
• Delta Time Accuracy（RMS）：1.48 ps
• Jitter Noise Floor（typical, BWE enabled）：340 fs
進階分析與除錯功能（ Advanced Analysis & Debug ）
• Wave Inspector® 高速波形搜尋與導航
• 完整進階觸發組（Visual + Logic + Serial）
• Automated Serial Analysis 支援：
PCIe、8b/10b、I2C、SPI、CAN、LIN、USB 2.0、HSIC、MIL-STD-1553B、MIPI® C-PHY / D-PHY / M-PHY
• Memory、Advanced Jitter、Power、Wideband RF 選配分析模組
探棒與介面整合（ Probe & Connectivity System ）
• TekVPI® Probe Interface
支援 Active / Differential / Current Probes 自動辨識與量測單位設定
• 高效能 TriMode™ 與 Logic Probe 系統（最高 2.5 GHz 數位頻寬）
連接與顯示（ Connectivity & Display ）
• USB 2.0（Front & Rear）資料儲存與裝置連接
• Integrated Ethernet 網路控制
• Video Out 外接螢幕輸出
• 9-inch WVGA Widescreen Color Display
高速系統應用支援（ High-Speed Application Support ）
• AI 伺服器 / HPC 高速互連分析（PCIe / DDR / SerDes）
• 高速時序與抖動驗證（Clock / Timing / Jitter）
• 5G / 6G 系統內部高速數位訊號除錯（非 RF）
• LTE 通訊設備高速資料通道分析
• Wi-Fi 6 / Wi-Fi 7 晶片與模組高速驗證
• 記憶體匯流排分析與除錯
• 電源完整性 PI（Noise / Ripple / Transient）
• 研發實驗室 / QA / 產線 EOL / ATE 測試環境
| DPO70404C, MSO70404C | |
| Analog channels | 4 |
| Digital channels (MSO70000 Series only) | 16 |
| Analog bandwidth (user-selectable DSP enhance) (–3dB) | 4 GHz |
| Hardware Analog Bandwidth (-3 dB) | 4 GHz |
| Rise time (typical) | 10% to 90%: 98 ps 20% to 80%: 68 ps |
| Sample rate (1, 2 ch) (maximum sample rate is 50 GS/s ) | 25 GS/s |
| Sample rate (3, 4 ch) | 25 GS/s |
| Sample rate (ET/IT mode) | 5 TS/s |
| Record length, points (each channel, standard) | 31.25 M 62.5 M (MSO70000 Series) |
| Record length (each channel, Opt. 5XL, DPO70000 series) | 62.5 M |
| Record length (each channel, Opt. 10XL) | 125 M |
| Record length (each channel, Opt. 20XL) | N/A |
| Record length (each channel, Opt. 50XL) | N/A |
| Timing resolution | 40 ps (25 GS/s) |
| Duration at highest sample rate (standard) | 1.25 ms 2.5 ms (MSO70000 Series) |
| Duration at highest sample rate (Opt. 5XL, DPO70000 series) | 2.5 ms |
| Duration at highest sample rate (Opt. 10XL) | 5.0 ms |
| Duration at highest sample rate (Opt. 20XL) | — |
| Duration at highest sample rate (Opt. 50XL) | — |
| Vertical noise (% of full scale) | 0.28% |
| Time base range (Auto mode) | 20 ps/div to 1000 s/div |
| Timing resolution (ET/IT mode) | 200 fs |
| Delta time measurement accuracy (RMS over1.48 ps | |
| Jitter noise floor (with BWE enabled) (typical) | 340 fs |
儀器介紹
Key features
- Superior signal integrity and excellent signal-to-noise ratio – observe the truest representation of your waveform
- Pinpoint® triggering – minimize time spent trying to acquire problem signals for efficient troubleshooting and shortened debug time
- Visual Trigger – precisely qualify triggers and find unique events in complex waveforms
- Search and Mark – provides waveform or serial bus pattern matching and software triggers for signals of interest
- Automated Serial Analysis options for PCI Express, 8b/10b encoded serial data, I2C, SPI, CAN, LIN, FlexRay, RS-232/422/485/UART, USB 2.0, HSIC, MIL-STD-1553B, and MIPI® C-PHY, D-PHY and M-PHY
- P7700, P7600, and P7500 TriMode™ probing system – perfectly matched signal connectivity, with calibration to probe tip
- P6780, P6750, and P6717A high-performance 17-channel logic probes with bandwidths up to 2.5 GHz for connections to today's fast digital signals (MSO70000 Series only)
Connectivity
- USB 2.0 host port on both the front panel and rear panel for quick and easy data storage, printing, and connecting a USB keyboard
- Integrated 10/100 Ethernet port for network connection and Video Out port to export the oscilloscope display to a monitor or projector
Application support
- High-speed serial industry standards compliance
- SignalVu® RF and vector signal analysis
- DDR memory bus analysis
Applications
- Design verification including signal integrity, jitter, and timing analysis
- Design characterization for high-speed, sophisticated designs
- Certification testing of serial data streams for industry standards
- Memory bus analysis and debug
- Prototype turn-on and power supply verification
- Research and investigation of transient phenomena
- Production testing of complex systems
- Spectral analysis of transient or wide-bandwidth RF signals