產品介紹
【弘燁科技・專業示波器／量測儀器服務】
Tektronix DPO7254 Digital Phosphor Oscilloscope
支援型號：DPO7254
我們提供完整服務：
全新／二手儀器買賣｜租賃｜出售｜回收收購｜維修保養｜校驗校正
Tektronix DPO7254 為 Tektronix 高階超高速 Digital Phosphor Oscilloscope（數位螢光示波器），具備 2.5 GHz 頻寬與最高 40 GS/s 即時取樣能力，搭配 DPO 螢光顯示技術，可清楚呈現高速訊號抖動、邊緣行為與低機率瞬態事件，特別適合高速數位通訊、時序分析與訊號完整性（SI/PI）應用。
常見於先進研發實驗室、高速系統驗證與產線量測環境。
✔ AI 伺服器／HPC 高速背板與資料通道分析（Clock / Timing / Jitter）
✔ 高速訊號完整性 SI 與電源完整性 PI（PDN Noise / Ripple / Transient）
✔ 高速 SerDes / DDR / PCIe 系統驗證
✔ 5G / 6G 高速通訊模組測試與除錯
✔ LTE 通訊設備訊號品質分析
✔ Wi-Fi 6 / Wi-Fi 7 高速數位波形量測
✔ FPGA / SoC 高速設計驗證
✔ 研發實驗室 / QA 驗證 / 產線 EOL / ATE 測試
我們提供：
• 儀器功能完整檢測與校驗
• 現貨／客訂供應（依頻寬、通道、配置需求媒合）
• 多型號專業比較諮詢（Tektronix DPO/MSO / Keysight Infiniium 等）
• 高價回收示波器與量測設備
• FAE 工程師協助高速探棒選型與應用測試建議（差動／高頻／電源探棒）
歡迎來電洽詢，提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排，協助您高效率完成高速量測與系統驗證需求。
規格
Tektronix DPO7254 為高階 Digital Phosphor Oscilloscope（數位螢光示波器），提供高速擷取與大記憶體深度，適用於高速數位訊號、SI/PI、抖動與協定除錯等應用。具備 FastAcq™ 高波形擷取率、Pinpoint® 精準觸發及 FastFrame™ 分段記憶體等功能，可有效提升除錯效率與問題定位能力。
Bandwidth / Sample rate（頻寬與取樣率）
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Bandwidth（頻寬）：2.5 GHz
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Sample Rate（取樣率）：40 / 20 / 10 GS/s（1 / 2 / 4 channels）
Acquisition performance（擷取效能）
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FastAcq™ waveform capture rate：> 250,000 wfm/s
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Digital phosphor display：Intensity-graded / color-graded 顯示（便於觀察偶發異常）
Trigger / Debug（觸發與除錯）
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Pinpoint® triggers：支援精準觸發，含 serial packet content（序列封包內容觸發）
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Advanced Search and Mark：一次可搜尋/標記最多 8 個特定事件
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MultiView Zoom™：快速導覽與局部放大，提升除錯效率
Record length / Memory（記錄長度/記憶體）
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Standard record length：12.5 Mpoints
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Optional record length：最高 500 Mpoints（選配）
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FastFrame™ segmented memory：支援分段記憶體擷取（適合 burst / intermittent 訊號分析）
Measurement / Math（量測與數學功能）
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53 automated measurements（53 種自動量測）
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Advanced math（進階數學運算功能）
Included / Optional applications（內建功能 / 選配應用）
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Included（內含）：
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Limit Test (LT)
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Visual Trigger and Search (VET)
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Extended record length (2RL)
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Optional（選配）：Application-specific support including
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Serial bus debug（序列匯流排除錯）
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Serial bus compliance（協定符合性測試）
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Power analysis（電源分析）
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Jitter analysis（抖動分析）
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RF analysis（RF 分析）
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儀器介紹
With the DPO7254 oscilloscope, you can visualize and characterize analog, digital and serial signals with a single instrument to quickly find and diagnose problems in complex embedded system designs. Its 2.5 GHz bandwidth and sample rate of 40 GS/s provide the performance you need for many of today's mainstream applications. A deep standard record length of 12.5 Mpoints with up to 500 Mpoints on one channel enables you to capture long windows of signal activity while maintaining fine timing resolution.
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