太克(Tektronix)

Tektronix SD 系列取樣/TDR 量測頭(Sampling / TDR Heads)

【弘燁科技・專業高速訊號完整性量測設備服務】 Tektronix SD-24 Dual Channel TDR / Sampling Head …

品牌:太克(Tektronix) 型號:PD1528940664621 料號:PD1528940664621
Tektronix SD 系列取樣/TDR 量測頭(Sampling / TDR Heads)
Brand
太克(Tektronix)
Model
PD1528940664621
Category
Specifications
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產品介紹

【弘燁科技・專業高速訊號完整性量測設備服務】
Tektronix SD-24 Dual Channel TDR / Sampling Head
(雙通道 TDR/取樣量測頭)

支援型號:
SD-24 Dual Channel TDR / Sampling Head(需搭配 Tektronix 取樣示波器主機平台使用,如 11801C、DSA 系列)

我們提供完整服務:
全新/二手儀器買賣|租賃|出售|回收收購|維修保養|校驗校正

Tektronix SD-24 為 Tektronix 高速 Dual Channel TDR / Sampling Head(雙通道時域反射與取樣量測頭),可同時進行高速訊號之 TDR 阻抗分析取樣量測,適用於單端與差動通道之反射、不連續點與訊號完整性(SI)分析。
SD-24 需搭配相容之 Tektronix 取樣示波器主機使用,常見於高速電性通道、背板與連接器之設計驗證與除錯環境。

常見應用場域,適用於:
✓ AI 伺服器 / GPU Cluster 高速差動通道驗證
(主機板、背板、線纜與連接器阻抗與反射分析)
✓ Data Center / AI 機櫃高速互連測試
(高速電性互連 TDR / Sampling 分析)
✓ 高速 SerDes / 記憶體 / I/O 通道訊號完整性分析
(Impedance / Reflection / Discontinuity)
✓ PCB 與高速線路設計除錯
(Via、Connector、Backplane TDR 量測)
✓ 研發實驗室、QA 與系統級驗證測試環境

我們提供:
・TDR/取樣量測頭功能檢測與量測驗證
・現貨/客訂可(依主機平台與量測需求供貨)
・多型號高速 TDR 與取樣量測設備諮詢
(Tektronix SD-24/11800 系列/DSA Sampling 系列)
・高價回收高速訊號完整性量測設備
・FAE 工程師協助量測架構、校正與測試流程建議
(TDR/Sampling/AI 伺服器高速通道量測)

歡迎來電洽詢,提供現貨查詢、快速報價、租賃方案與交期安排,協助您快速完成 AI 伺服器與 Data Center 高速電性通道之訊號完整性量測需求。

規格

Tektronix SD 系列取樣/TDR 量測頭(Sampling / TDR Heads)

Tektronix SD 系列 Sampling / TDR Heads 為高速取樣示波與訊號完整性(SI)量測專用模組,涵蓋電性取樣、TDR、光電轉換與觸發應用,可搭配 Tektronix 11800、DSA 等取樣示波平台使用,廣泛應用於高速數位、光通訊、AI 伺服器與資料中心高速互連驗證。

SD 系列型號一覽(Model Overview)

  • SD-14:3 GHz 高阻抗雙通道取樣頭
    (100 kΩ / 0.475 pF)

  • SD-20:20 GHz 單通道 Loop-through 量測頭

  • SD-22:12.5 GHz 雙通道低雜訊取樣頭

  • SD-24:20 GHz 雙通道 TDR / Sampling Head

  • SD-26:20 GHz 雙通道取樣頭

  • SD-32:50 GHz 單通道取樣頭

  • SD-42:6.4 GHz O/E 光電轉換器
    (55 ps Optical Pulse Response, FWHM)

  • SD-44:15 GHz O/E 光電轉換器

  • SD-51:20 GHz Trigger Head

(實際支援依主機平台與配置)

SD-24 核心量測規格(Key Specifications)

取樣與頻寬特性

  • 頻寬:20 GHz

  • 上升時間(Rise Time):17.5 ps

  • 取樣重複率:100 Hz ~ 200 kHz

  • 通道時間一致性:通道間 10 ps

電氣輸入特性

  • 最大輸入電壓

    • 1 Vp-p(量測)

    • 1.6 Vp-p(操作)

    • ±3 V(Non-destructive)

  • 輸入介面:3.5 mm 連接器

TDR / Pulser 特性

  • Pulser Rise Time:28 ps

  • Pulser Voltage:250 mV

  • 支援雙通道 TDR 與取樣量測整合

架構與應用定位(System Positioning)

  • 雙通道設計,適合差動與高速電性通道分析

  • 支援高速通道 阻抗、反射、不連續點 量測

  • 可用於 PCB、背板、連接器與線纜之 SI 驗證

  • 適合 AI 伺服器 / Data Center 高速電性互連除錯

  • 常見於 R&D、QA 與系統級驗證環境

系統整合說明

SD-24 與 SD 系列量測頭需搭配 Tektronix 取樣示波器主機(如 11801C、DSA 系列)使用,可依應用需求彈性建構高速取樣與 TDR 量測平台。

English

儀器介紹

 The SD-24 sampler uses a six-diode sampling bridge similar in concept to the "trapped charge", traveling wave S-4 sampler. The SD-24 is a dual-channel sampler which includes a built-in TDR pulser. The SD-24 sampler is internally terminated in 50 Ohms. The risetime is 17.5 ps as specified. The picosecond domain transient performance was found to track well with waveforms measured on the HYPRES scope. It did show a few extra small (4%) perturbations in the 200 ps to 500 ps region that were not seen on the HYPRES or HP-54121A samplers. After 1 ns, the settling time transient performance was excellent. It was far better than any of the other samplers tested.

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