產品介紹
The HP/Agilent 4291B RF impedance/material analyzer provides a total solution for high-accuracy and easy measurement of surface-mount components and dielectric/magnetic materials. The HP/Agilent 4291B uses a direct current-voltage measurement technique, opposing the reflection measurement technique, for more accurate impedance measurement over wide impedance range.
・由 Agilent Technologies 推出的高頻 Impedance / Material Analyzer 阻抗與材料分析儀
・專為 SMD 被動元件、介電材料與磁性材料高精度量測設計
・採用 Direct I-V Measurement Technique(直流電壓電流法),優於反射式量測技術,提供更寬阻抗範圍與更高準確度
・適合研發、材料分析與量產測試應用
・Basic Accuracy:0.8%
・1 MHz to 1.8 GHz
・Frequency Resolution:1 mHz
・內建高穩定合成訊號產生器掃頻
・Amplitude(振幅)
・Phase(相位)
・Group Delay(群延遲)
・適用高頻電路與射頻元件分析
・|Z|, |Y|
・Phase
・R, X
・G, B
・Lp, Ls
・Cp, Cs
・D, Q
・Deviation, Deviation %
・DC Bias:±35 V
・可模擬元件實際工作電壓條件測試
・Direct Read-out of Permittivity & Permeability(介電常數與磁導率直接讀取,選配)
・Versatile Analysis:
– Temperature Characteristics(溫度特性分析)
– Cole-Cole Plot(材料損耗特性圖)
– Relaxation Time Analysis(鬆弛時間分析)
・Frequency Sweep(頻率掃描)
・AC Level Sweep(訊號振幅掃描)
・DC Bias Sweep(偏壓掃描)
・Temperature Sweep(溫度掃描)
・GP-IB 標準通訊控制
・Option 002 – 100 Hz / 200 Hz Resolution Synthesizer
・Option 004 – Recorder Outputs
・高精度寬頻阻抗與材料同步量測平台
・適用高頻被動元件與先進材料研發
・支援偏壓與溫度條件下特性分析
・適合研發、QA 與產線 EOL/ATE 測試架構
・AI 伺服器高速電源模組與 PDN 阻抗分析
・SI/PI(訊號完整性/電源完整性)驗證
・5G / 6G 射頻通訊模組與高頻材料測試
・WiFi 6 / WiFi 7 高速射頻基板與低損耗材料分析
・LTE/NB-IoT 通訊元件與材料電性驗證
・半導體封裝基板與介電材料研發
・磁性材料與高頻電子材料特性研究
・研發實驗室/QA/產線測試
Agilent 4291A / 4291B datasheet:
規格
主要規格與效能(Core Specifications)
產品定位(Product Overview)
・由 Agilent Technologies 推出的高頻 Impedance / Material Analyzer 阻抗與材料分析儀
・專為 SMD 被動元件、介電材料與磁性材料高精度量測設計
・採用 Direct I-V Measurement Technique(直流電壓電流法),優於反射式量測技術,提供更寬阻抗範圍與更高準確度
・適合研發、材料分析與量產測試應用
基本精度(Basic Accuracy)
・Basic Accuracy:0.8%
頻率範圍與解析度(Frequency Range & Resolution)
・1 MHz to 1.8 GHz
・Frequency Resolution:1 mHz
・內建高穩定合成訊號產生器掃頻
網路與相位量測功能(Gain-Phase Measurement)
・Amplitude(振幅)
・Phase(相位)
・Group Delay(群延遲)
・適用高頻電路與射頻元件分析
阻抗量測參數(Impedance Measurement Parameters)
・|Z|, |Y|
・Phase
・R, X
・G, B
・Lp, Ls
・Cp, Cs
・D, Q
・Deviation, Deviation %
內建偏壓能力(DC Bias)
・DC Bias:±35 V
・可模擬元件實際工作電壓條件測試
進階材料分析功能(Material Measurement & Analysis)
・Direct Read-out of Permittivity & Permeability(介電常數與磁導率直接讀取,選配)
・Versatile Analysis:
– Temperature Characteristics(溫度特性分析)
– Cole-Cole Plot(材料損耗特性圖)
– Relaxation Time Analysis(鬆弛時間分析)
掃描參數設定(Sweep Parameters)
・Frequency Sweep(頻率掃描)
・AC Level Sweep(訊號振幅掃描)
・DC Bias Sweep(偏壓掃描)
・Temperature Sweep(溫度掃描)
介面控制(Interfaces)
・GP-IB 標準通訊控制
選配治具與配件(Optional Test Fixtures)
・16091A Coaxial Test Fixture
・16092A Spring Clip Test Fixture
・16093A / 16093B Binding Post Test Fixture
・16094A Probe Fixture
選購功能(Options)
・Option 002 – 100 Hz / 200 Hz Resolution Synthesizer
・Option 004 – Recorder Outputs
系統整合與特性(System Integration & Features)
・高精度寬頻阻抗與材料同步量測平台
・適用高頻被動元件與先進材料研發
・支援偏壓與溫度條件下特性分析
・適合研發、QA 與產線 EOL/ATE 測試架構
典型應用(Typical Applications)
・AI 伺服器高速電源模組與 PDN 阻抗分析
・SI/PI(訊號完整性/電源完整性)驗證
・5G / 6G 射頻通訊模組與高頻材料測試
・WiFi 6 / WiFi 7 高速射頻基板與低損耗材料分析
・LTE/NB-IoT 通訊元件與材料電性驗證
・半導體封裝基板與介電材料研發
・磁性材料與高頻電子材料特性研究
・研發實驗室/QA/產線測試
儀器介紹
The HP/Agilent 4291B RF impedance/material analyzer provides a total solution for high-accuracy and easy measurement of surface-mount components and dielectric/magnetic materials. The HP/Agilent 4291B uses a direct current-voltage measurement technique, opposing the reflection measurement technique, for more accurate impedance measurement over wide impedance range.