產品介紹
主要規格與效能（Core Specifications）
產品定位（Product Overview）
・由 Agilent Technologies 設計之高階 RF Impedance / Material Analyzer
・支援高頻被動元件與電子材料精密阻抗與介電分析
・採用 RF-IV Measurement Technique（非反射式量測架構）
・提供寬阻抗範圍下更高準確度與穩定性
頻率範圍與解析度（Frequency Range & Resolution）
・Internal Synthesizer Sweep：1 MHz to 3 GHz
・Frequency Resolution：1 mHz
・支援超寬頻高解析阻抗掃描分析
量測精度（Measurement Accuracy）
・Basic Impedance Accuracy：±0.8%
・High Q Accuracy（低損耗元件高精度分析）
・適用高品質因數材料與元件特性研究
量測技術架構（Measurement Technology）
・RF-IV Technique（電壓電流量測法）
・較反射式量測具更寬阻抗範圍與更高準確度
・特別適合微小元件與低損耗材料分析
材料量測能力（Material Measurement Capability）
・Dielectric & Magnetic Material Measurement Solutions
・Frequency Range：1 MHz to 1 GHz
・支援介電與磁性材料參數直接分析
・適用先進封裝與高頻低損耗材料研發
晶圓與微元件量測（On-Wafer Measurement – Option 010）
・Probe Station Connection Kit（E4991A-010）
・支援 RF Probe System（如 Cascade Microtech）
・進行 On-Wafer 與微結構元件阻抗量測
・Frequency up to 3 GHz
溫度特性量測（Temperature Characteristic Test – Option 007）
・Temperature Range：-55°C to +150°C
・高精度溫漂補償分析功能
・適用元件與材料溫度穩定性研究
內建分析功能（Built-in Analysis Functions）
・Equivalent Circuit Analysis（等效電路模型分析）
・Wide Impedance Range Characterization
・適用研發與可靠度測試流程
系統整合與特性（System Integration & Features）
・支援多種治具與材料測試套件整合
・可進行高頻、偏壓、溫度同步量測分析
・適用研發、QA、產線 EOL／ATE 測試環境
・特別適合 RF 與高速電子設計驗證
典型應用（Typical Applications）
・AI 伺服器／HPC 高速電源網路 PDN 阻抗分析
・SI／PI（訊號完整性／電源完整性）驗證
・5G / 6G 射頻模組與高頻被動元件特性量測
・WiFi 6 / WiFi 7 高速射頻電路與材料測試
・LTE／NB-IoT 通訊元件阻抗分析
・半導體封裝基板與低損耗材料研發
・介電與磁性材料特性研究
・晶圓級元件與微結構測試
E4991A - 001 - ADD DC BIAS
Agilent E4991A datasheet:
規格
-
主要規格與效能（Core Specifications）
產品定位（Product Overview）
・由 Agilent Technologies 設計之高階 RF Impedance / Material Analyzer
・支援高頻被動元件與電子材料精密阻抗與介電分析
・採用 RF-IV Measurement Technique（非反射式量測架構）
・提供寬阻抗範圍下更高準確度與穩定性頻率範圍與解析度（Frequency Range & Resolution）
・Internal Synthesizer Sweep：1 MHz to 3 GHz
・Frequency Resolution：1 mHz
・支援超寬頻高解析阻抗掃描分析量測精度（Measurement Accuracy）
・Basic Impedance Accuracy：±0.8%
・High Q Accuracy（低損耗元件高精度分析）
・適用高品質因數材料與元件特性研究量測技術架構（Measurement Technology）
・RF-IV Technique（電壓電流量測法）
・較反射式量測具更寬阻抗範圍與更高準確度
・特別適合微小元件與低損耗材料分析材料量測能力（Material Measurement Capability）
・Dielectric & Magnetic Material Measurement Solutions
・Frequency Range：1 MHz to 1 GHz
・支援介電與磁性材料參數直接分析
・適用先進封裝與高頻低損耗材料研發晶圓與微元件量測（On-Wafer Measurement – Option 010）
・Probe Station Connection Kit（E4991A-010）
・支援 RF Probe System（如 Cascade Microtech）
・進行 On-Wafer 與微結構元件阻抗量測
・Frequency up to 3 GHz溫度特性量測（Temperature Characteristic Test – Option 007）
・Temperature Range：-55°C to +150°C
・高精度溫漂補償分析功能
・適用元件與材料溫度穩定性研究內建分析功能（Built-in Analysis Functions）
・Equivalent Circuit Analysis（等效電路模型分析）
・Wide Impedance Range Characterization
・適用研發與可靠度測試流程系統整合與特性（System Integration & Features）
・支援多種治具與材料測試套件整合
・可進行高頻、偏壓、溫度同步量測分析
・適用研發、QA、產線 EOL／ATE 測試環境
・特別適合 RF 與高速電子設計驗證典型應用（Typical Applications）
・AI 伺服器／HPC 高速電源網路 PDN 阻抗分析
・SI／PI（訊號完整性／電源完整性）驗證
・5G / 6G 射頻模組與高頻被動元件特性量測
・WiFi 6 / WiFi 7 高速射頻電路與材料測試
・LTE／NB-IoT 通訊元件阻抗分析
・半導體封裝基板與低損耗材料研發
・介電與磁性材料特性研究
・晶圓級元件與微結構測試
E4991A - 001 - ADD DC BIAS - E4991A - 002 - ADD MATERIAL MEASUREMENT FIRMWARE
- E4991A - 007 - TEMPERATURE CHARACTERISTIC TEST KIT
- E4991A - 010 - PROBE STATION CONNECTION KIT
- E4991A - 16092A - SPRING CLIP FIXTURE
- E4991A - 16190B - PERFORMANCE TEST KIT
- E4991A - 16192A - PARALLEL ELECTRODE SMD TEST FIXTURE
- E4991A - 16194A - HIGH TEMPERATURE COMPONENT TEST FIXTURE
- E4991A - 16196A - PARALLEL ELECTRODE SMD TEST FIXTURE, DC TO 3 GHZ
- E4991A - 16196B - PARALLEL ELECTRODE SMD TEST FIXTURE, DC TO 3 GHZ
- E4991A - 16196C - PARALLEL ELECTRODE SMD TEST FIXTURE, DC TO 3 GHZ
- E4991A - 16196D - PARALLEL ELECTRODE SMD TEST FIXTURE, DC TO 3 GHZ
- E4991A - 16197A - BOTTOM ELECTRODE SMD TEST FIXTURE
- E4991A - 16200B - EXTERNAL DC BIAS ADAPTER
- E4991A - 16453A - DIELECTRIC MATERIAL TEST FIXTURE
- E4991A - 16454A - MAGNETIC MATERIAL TEST FIXTURE
- E4991A - 1A7 - ISO 17025 COMPLIANT CALIBRATION
- E4991A - 1CM - RACKMOUNT KIT
- E4991A - 1CN - HANDLE KIT
- E4991A - 1CP - RACKMOUNT AND HANDLE KIT
- E4991A - 1D5 - HIGH STABILITY FREQUENCY REFERENCE
- E4991A - 800 - STANDARD FREQUENCY REFERENCE
儀器介紹
The E4991A RF impedance/material analyzer offers ultimate impedance measurement performance and powerful built in analysis function. It will provide innovations in R+D of components and circuit designers who evaluate components in the range of 3 GHz. The E4991A uses an RF-IV technique, as opposed to the reflection measurement technique, for more accurate impedance measurement over wide impedance range. Basic impedance accuracy is +/-0.8%. High Q accuracy enables low-loss component analysis. The internal synthesizer sweeps frequency from 1 MHz to 3 GHz with 1 mHz resolution.The E4991A provides the total dielectric/magnetic material measurement solutions in wide frequency range (1 MHz to 1 GHz).The E4991A-010, Probe Station Connection Kit, enables us to easily connect the Agilent E4991A to a RF probe system from Cascade Microtech for making on-wafer impedance measurements.The temperature characteristic test kit, the E4991A-007, is a new solution of temperature characteristic measurement for components and materials. This option provides highly accurate temperature characteristic analysis capability within the wide temperature range from - 55C to + 150C with a powerful temperature drift compensation function.