The Agilent HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer offers four built-in source/monitor units (SMUs), two voltage source units (VSUs), and two voltage monitor units (VMUs). The HP 4155B is best suited for basic semiconductor applications with its non-kelvin connections, 10 V resolution, and 100 mA/100 Ohm measurement range.

Agilent 4155B 4156B Semiconductor Parameter Analyzer 半導體參數分析儀 

主要規格與效能（ Core Specifications ）

量測範圍與精度（ Measurement Range & Accuracy ）

．High-resolution / High-accuracy Wide Dynamic Range 設計
．Current Range：1 fA to 1 A（20 fA offset accuracy）
．Voltage Range：1 µV to 200 V
．適用於 Ultra-low Leakage 與 High-power Device 分析
．支援 GaN / SiC / Power MOSFET 等第三代半導體元件

I-V 掃描與脈衝功能（ I-V Sweep & Pulse Capability ）

SMU 擴充能力（ SMU Expandability ）

．Expandable up to 6 SMUs
．多通道同步量測架構
．適用於 Wafer Level 多端元件測試
．支援 IC Design Verification / Process Development

時間域量測（ Time-Domain Measurement ）

．60 µs – Variable Intervals
．Up to 10,001 Points
．適用於 Reliability Stress Test（BTI / TDDB）
．長時間元件可靠度分析應用

操作與分析功能（ Operation & Analysis ）

．Knob-sweep 操作方式（類似 Curve Tracer）
．Automatic Analysis Functions
．即時 I-V Curve 圖形顯示

自動化整合能力（ Automation Capability ）

 ．Built-in HP Instrument BASIC

．Trigger I/O Capabilities
．可整合 Automated Test Equipment（ATE）
．適用於 QA / EOL / R&D 量測環境

Agilent 4155B / 4156B datasheet: 

• Datasheet PD1530169785294