產品介紹
Keysight (Agilent) E5260A 為業界廣泛採用的 半導體參數分析儀（Semiconductor Parameter Analyzer / Parameter Analyzer），可提供多通道 SMU（Source/Measure Unit） 量測架構，精準量測各類半導體元件與材料的 I-V 特性（電流-電壓曲線），適用於元件研發、製程驗證、品質檢驗與失效分析等應用。
規格
Keysight N1000A DCA-X 為高速 Sampling Oscilloscope / Eye Diagram Analyzer（取樣示波器/眼圖分析平台），採用 模組化 Plug-in 架構，可依需求配置高速電性與光學量測模組，支援 Electrical/Optical Eye Diagram、Jitter Analysis、Mask Test 等核心功能，適用於 SerDes 高速鏈路、PAM4/NRZ 光電通訊、以及 AI 伺服器/資料中心高速互連之驗證、除錯與產線測試。
1) 模組化平台（Modular DCA-X Platform）
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DCA-X Mainframe 主機 + Plug-in 模組架構
Modular mainframe with plug-in measurement modules -
支援多種量測模組（依配置）：
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Electrical sampling modules（高速電性取樣模組）
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Optical modules（光學取樣/光眼圖模組）
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可依應用擴充功能與通道，適合 R&D / QA / 產線 EOL
Flexible scalability for lab and manufacturing use
2) 眼圖量測（Eye Diagram Measurements）
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支援 Electrical Eye / Optical Eye（依模組配置）
Electrical & optical eye diagram measurements -
支援 NRZ / PAM4 訊號分析（依模組/軟體）
NRZ / PAM4 capability (module/software dependent) -
可進行眼圖品質、eye height/width、margin 等分析
Eye margin measurement and waveform characterization
3) 抖動與時序分析（Jitter / Timing Analysis）
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支援 Jitter Analysis / Timing Analysis（依配置）
Comprehensive jitter/timing characterization (option dependent) -
適用 clock / data 的 jitter、timing、link debug
Ideal for SerDes timing troubleshooting and validation
4) 遮罩測試（Mask Test / Compliance）
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支援 Mask Test（Pass/Fail）遮罩測試（依軟體/選配）
Mask testing for compliance validation (software option dependent) -
適用規範驗證、QA 判定、量產 EOL 快速篩檢
Suitable for QA and manufacturing screening
5) 高速 SerDes / 光通訊應用（High-Speed / Optical）
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適用於高速串列鏈路驗證：SerDes / High-speed I/O
High-speed serial link validation and debug -
適用於光收發器/光模組測試：QSFP / OSFP / SFP Transceiver
Transceiver characterization and optical/electrical compliance tests -
常見資料中心互連應用（依配置）：
400G / 200G / 100G Ethernet、PAM4 optical/electrical testing
6) AI 伺服器周邊相關應用（AI Server / HPC）
N1000A DCA-X 常見於 AI/HPC 資料中心的高速硬體驗證，包含：
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AI Server 高速互連（High-speed Interconnect）
PCIe / CXL 高速 I/O link debug、signal integrity 驗證（依配置） -
Retimer / Redriver / Switch 相關元件驗證
retimer/redriver validation and link margin testing -
AI Cluster 網路與光模組互連測試
400G/800G 光模組與高速鏈路一致性驗證（依模組/軟體）
7) 自動化與遠端控制（Automation / Remote Control）
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支援自動化測試整合（R&D / QA / Manufacturing）
Automation-ready for lab and production environments -
適用大量測點、長時間監測與報告產出流程
Suitable for regression tests and production workflows
儀器介紹
- Modular DCA-X sampling oscilloscope platform for high-speed electrical / optical waveform analysis
- Supports Electrical & Optical Eye Diagram measurements (NRZ / PAM4, depends on plug-in modules)
- Provides comprehensive Jitter Analysis and Mask Test for compliance and validation
- Plug-in architecture supports multiple DCA-X measurement modules (electrical sampling modules & optical modules)
- Ideal for high-speed serial links / SerDes validation, debug and characterization
- Enables testing for data center interconnects and transceiver modules (QSFP / OSFP / SFP)
- Supports clock / timing / jitter characterization and waveform integrity analysis
- High repeatability sampling measurements for signal integrity (SI) validation
- Automation-ready for R&D, QA and manufacturing test environments (remote control, depending on configuration)
- Common applications: 400G/200G/100G Ethernet, PAM4 optical/electrical compliance testing
- AI server / HPC related applications: PCIe / CXL high-speed I/O, retimer/redriver validation, and link margin testing
- Designed for transceiver / optical module characterization and validation for modern data center networks